射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置的核准國家是中國大陸, 證書號碼是ZL200610099252.X, 專利性質是發明, 執行單位是工研院機械所, 產出年度是98, 計畫名稱是機械與系統領域環境建構計畫, 專利發明人是呂文鎔 ,黃朝顯 ,.

序號	5851
產出年度	98
領域別	(空)
專利名稱-中文	射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置
執行單位	工研院機械所
產出單位	(空)
計畫名稱	機械與系統領域環境建構計畫
專利發明人	呂文鎔 \| 黃朝顯
核准國家	中國大陸
獲證日期	(空)
證書號碼	ZL200610099252.X
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種射頻識別電子標籤之製造方法及其裝置，係用以將基板與晶圓中之晶片相互結合，其中基板上設有電子標籤電路及塗佈有膠材，且晶片具有對應於電子標籤電路之至少一接點。射頻識別電子標籤之製造步驟首先係以翻轉機構將具有膠材之基板表面翻轉而對應於晶圓，並利用移動機構及對位機構，以將基板移動至晶圓位置，而使基板之電子標籤電路與晶片之接點進行相互對位，最後以一晶片分離機構將晶片脫離於晶圓且貼附於基板。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	呂文鎔
電話	03-5918078
傳真	03-5820458
電子信箱	WJLu@itri.org.tw
參考網址	http://N/A
備註	20101116-Joanne
特殊情形	(空)

序號

5851

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置

執行單位

工研院機械所

產出單位

(空)

計畫名稱

機械與系統領域環境建構計畫

專利發明人

呂文鎔 | 黃朝顯

核准國家

中國大陸

獲證日期

(空)

證書號碼

ZL200610099252.X

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種射頻識別電子標籤之製造方法及其裝置，係用以將基板與晶圓中之晶片相互結合，其中基板上設有電子標籤電路及塗佈有膠材，且晶片具有對應於電子標籤電路之至少一接點。射頻識別電子標籤之製造步驟首先係以翻轉機構將具有膠材之基板表面翻轉而對應於晶圓，並利用移動機構及對位機構，以將基板移動至晶圓位置，而使基板之電子標籤電路與晶片之接點進行相互對位，最後以一晶片分離機構將晶片脫離於晶圓且貼附於基板。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

呂文鎔

電話

03-5918078

傳真

03-5820458

電子信箱

WJLu@itri.org.tw

參考網址

http://N/A

備註

20101116-Joanne

特殊情形

(空)

根據識別碼 ZL200610099252.X 找到的相關資料

無其他 ZL200610099252.X 資料。

[ 搜尋所有 ZL200610099252.X ... ]

根據名稱射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置找到的相關資料

無其他射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置資料。

[ 搜尋所有 射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置 ... ]

根據姓名呂文鎔黃朝顯找到的相關資料

射頻識別電子標籤之製造方法及其裝置

@ 技術司專利資料集

射頻識別電子標籤之製造方法及其裝置

@ 技術司專利資料集

[ 搜尋所有 呂文鎔黃朝顯 ... ]

根據電話 03-5918078 找到的相關資料

無其他 03-5918078 資料。

[ 搜尋所有 03-5918078 ... ]

在『技術司專利資料集』資料集內搜尋:

與射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置同分類的技術司專利資料集

低頻率漂移數位頻率調制裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 195328 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 高炳文 \| 謝賜山 \| 紀秋棉
光學編碼器定位裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 193120 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳
影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200068 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林俊育 \| 宋新岳 \| 羅偕益
熱釋電型感測器信號轉換電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 197821 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 涂鐘範 \| 林耀明
顯示裝置之檢測系統及方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 220689 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 田立芬 \| 葉峻毅 \| 楊福祥
寬頻掃頻電路架構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 198444 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮 \| 謝賜山
光源產生裝置及方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200164 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林勝雄 \| 江敏華 \| 郭葉琮
相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206753 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 楊景榮 \| 高清芬 \| 陳譽元
新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206450 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 葉清銘 \| 陳燦林 \| 陳譽元
反射尺讀頭裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 201496 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳 \| 高清芬 \| 陳燦林 \| 陳譽元
物體表面三維形貌量測方法和系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200161 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 宋新岳 \| 田立芬
利用共軛光路量測二維位移量之方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,744,520 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 張中柱 \| 高清芬 \| 李世光
紅外光轉換可見光之顯微影像裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,687,051 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 王浩偉 \| 林耀明 \| 葉迎春
可調光徑之光學捕捉裙	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,667,838 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林耀明 \| 王浩偉 \| 羅偕益
利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 194233 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 李朱育 \| 施學兢

射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置 - 技術司專利資料集 @ 經濟部

序號

產出年度

領域別

專利名稱-中文

執行單位

產出單位

計畫名稱

專利發明人

核准國家

獲證日期

證書號碼

專利期間起

專利期間訖

專利性質

技術摘要-中文

技術摘要-英文

聯絡人員

電話

傳真

電子信箱

參考網址

備註

特殊情形

在『技術司專利資料集』資料集內搜尋:

與射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置同分類的技術司專利資料集

射頻識別電子卷標的制造方法及其裝置
- 技術司專利資料集 @ 經濟部