專利名稱-中文半反射半穿透液晶顯示器及其製造方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是I329215, 專利期間起是1999/8/21, 專利期間訖是114/12/28, 專利性質是發明, 執行單位是工研院顯示中心, 產出年度是99, 計畫名稱是新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫, 專利發明人是陳中豪 ,廖奇璋 ,沙益安 ,.
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| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,089,595 | 專利期間起: 101/01/03 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 陳中豪 | 廖奇璋 | 沙益安 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8089595 | 專利期間起: 101/01/03 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 陳中豪 | 廖奇璋 | 沙益安 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200610005027.5 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 97 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 陳中豪 廖奇璋 沙益安 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200610071836.6 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 98 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 蕭志郡 | 張顧獻 | 陳儒德 | 謝政熹 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,724,332 | 專利期間起: 99/05/25 | 專利期間訖: 117/04/23 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 蕭志郡 | 張顧獻 | 陳儒德 | 謝政熹 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7724332 | 專利期間起: 1999/5/25 | 專利期間訖: 117/04/23 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 蕭志郡 | 張顧獻 | 陳儒德 | 謝政熹 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I337272 | 專利期間起: 100/02/11 | 專利期間訖: 115/02/05 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 蕭志郡 | 張顧獻 | 陳儒德 | 謝政熹 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,089,595 | 專利期間起: 101/01/03 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 陳中豪 | 廖奇璋 | 沙益安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8089595 | 專利期間起: 101/01/03 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 陳中豪 | 廖奇璋 | 沙益安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200610005027.5 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 97 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 陳中豪 廖奇璋 沙益安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200610071836.6 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 98 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 蕭志郡 | 張顧獻 | 陳儒德 | 謝政熹 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,724,332 | 專利期間起: 99/05/25 | 專利期間訖: 117/04/23 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 蕭志郡 | 張顧獻 | 陳儒德 | 謝政熹 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 7724332 | 專利期間起: 1999/5/25 | 專利期間訖: 117/04/23 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 蕭志郡 | 張顧獻 | 陳儒德 | 謝政熹 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I337272 | 專利期間起: 100/02/11 | 專利期間訖: 115/02/05 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 蕭志郡 | 張顧獻 | 陳儒德 | 謝政熹 @ 技術司專利資料集 |
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| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I274909 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 96 | 計畫名稱: 影像顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳中豪 沙益安 廖奇璋 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I274909 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 96 | 計畫名稱: 影像顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳中豪 沙益安 廖奇璋 @ 技術司專利資料集 |
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| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,637,578 | 專利期間起: 98/12/29 | 專利期間訖: 117/07/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 張家銘 | 鄭兆凱 | 林智堅 | 邱至軒 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 日本 | 證書號碼: 4702725 | 專利期間起: 100/03/18 | 專利期間訖: 109/08/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 陳尚立 | 易建宇 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I368077 | 專利期間起: 101/07/11 | 專利期間訖: 117/03/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 李達為 | 胥智文 | 沙益安 | 張郁培 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I370933 | 專利期間起: 101/08/21 | 專利期間訖: 117/03/30 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 廖貞慧 | 詹立雄 | 彭智平 | 賴詩文 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I360011 | 專利期間起: 101/03/11 | 專利期間訖: 117/10/08 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 林政偉 | 何金原 | 黃彥士 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,683,531 | 專利期間起: 99/03/23 | 專利期間訖: 116/07/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 林炳南 | 李正中 | 張悠揚 | 林偉義 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,637,578 | 專利期間起: 98/12/29 | 專利期間訖: 117/07/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 張家銘 | 鄭兆凱 | 林智堅 | 邱至軒 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 日本 | 證書號碼: 4702725 | 專利期間起: 100/03/18 | 專利期間訖: 109/08/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 陳尚立 | 易建宇 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I368077 | 專利期間起: 101/07/11 | 專利期間訖: 117/03/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 李達為 | 胥智文 | 沙益安 | 張郁培 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I370933 | 專利期間起: 101/08/21 | 專利期間訖: 117/03/30 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 廖貞慧 | 詹立雄 | 彭智平 | 賴詩文 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I360011 | 專利期間起: 101/03/11 | 專利期間訖: 117/10/08 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 林政偉 | 何金原 | 黃彥士 @ 技術司專利資料集 |
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與半反射半穿透液晶顯示器及其製造方法同分類的技術司專利資料集
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 207098 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 曾美榕 | 劉仲明 | 王俊凱 | 林顯光 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195331 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳中屏 | 陳振鑾 | 施志哲 | 陳致源 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 202724 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 魏碧玉 | 賴宏仁 | 蘇平貴 | 吳仁彰 | 林鴻明 | 孫益陸 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 190616 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李文錦 | 周淑金 | 葉信宏 | 陳冠良 | 謝坤龍 | 陳銘倫 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,707,499 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 貢振邦 | 林子平 | 尤智仕 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192948 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,763,230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189588 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李青峰 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 207098 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 曾美榕 | 劉仲明 | 王俊凱 | 林顯光 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195331 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳中屏 | 陳振鑾 | 施志哲 | 陳致源 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 202724 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 魏碧玉 | 賴宏仁 | 蘇平貴 | 吳仁彰 | 林鴻明 | 孫益陸 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 190616 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李文錦 | 周淑金 | 葉信宏 | 陳冠良 | 謝坤龍 | 陳銘倫 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,707,499 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 貢振邦 | 林子平 | 尤智仕 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192948 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,763,230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189588 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李青峰 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
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