Image Invariant Optical Speckle Capturing Device And Method
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專利名稱-中文Image Invariant Optical Speckle Capturing Device And Method的核准國家是美國, 執行單位是中科院材料所, 產出年度是99, 專利性質是發明, 計畫名稱是光電感測辨識模組與應用技術計畫, 專利發明人是黃宜裕,陳銘,馬心一,黃欽德,王茂燃,黃文政, 證書號碼是US7,715,016B2.

序號7252
產出年度99
領域別電資通光
專利名稱-中文Image Invariant Optical Speckle Capturing Device And Method
執行單位中科院材料所
產出單位(空)
計畫名稱光電感測辨識模組與應用技術計畫
專利發明人黃宜裕,陳銘,馬心一,黃欽德,王茂燃,黃文政
核准國家美國
獲證日期99/05/11
證書號碼US7,715,016B2
專利期間起99/05/11
專利期間訖117/05/27
專利性質發明
技術摘要-中文一種不變形光斑取像裝置與方法,利用一高同調性光照射物體表面產生散射光,在散射角相差反射角約10度的位置擷取散射光所產生的光斑圖像。本光斑取像裝置設計了一限制入射視場角的限光模組,可以在取像裝置與物平面有相對移動時,像平面上的光斑也跟著移動,但其形狀及強度幾乎保持不變,因此非常有利於精密光斑圖形識別與定位。2.應用領域:電腦滑鼠、手指導覽器、智慧卡、三維指紋身份辨識、防偽裝置、工作母機或機械手臂精密定位系統。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員黃宜裕
電話03-4712201#359354
傳真03-4711024
電子信箱csist_mrdc@csnet.gov.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
同步更新日期2023-07-05

序號

7252

產出年度

99

領域別

電資通光

專利名稱-中文

Image Invariant Optical Speckle Capturing Device And Method

執行單位

中科院材料所

產出單位

(空)

計畫名稱

光電感測辨識模組與應用技術計畫

專利發明人

黃宜裕,陳銘,馬心一,黃欽德,王茂燃,黃文政

核准國家

美國

獲證日期

99/05/11

證書號碼

US7,715,016B2

專利期間起

99/05/11

專利期間訖

117/05/27

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種不變形光斑取像裝置與方法,利用一高同調性光照射物體表面產生散射光,在散射角相差反射角約10度的位置擷取散射光所產生的光斑圖像。本光斑取像裝置設計了一限制入射視場角的限光模組,可以在取像裝置與物平面有相對移動時,像平面上的光斑也跟著移動,但其形狀及強度幾乎保持不變,因此非常有利於精密光斑圖形識別與定位。2.應用領域:電腦滑鼠、手指導覽器、智慧卡、三維指紋身份辨識、防偽裝置、工作母機或機械手臂精密定位系統。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

黃宜裕

電話

03-4712201#359354

傳真

03-4711024

電子信箱

csist_mrdc@csnet.gov.tw

參考網址

(空)

備註

(空)

特殊情形

(空)

同步更新日期

2023-07-05

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Large Areas Undistorted Imaging Apparatus For Light Speckles And Method Thereof

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 99 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 光電感測辨識模組與應用技術計畫 | 專利發明人: 黃宜裕,陳銘,王茂燃,黃文政,馬心一,黃欽德,劉光新 | 證書號碼: US7,593,113B2

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

光斑取像裝置與方法

核准國家: 日本 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 98 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 光電感測辨識模組與應用技術計畫 | 專利發明人: 黃宜裕、陳銘、王茂燃、黃文政、馬心一 | 證書號碼: 特許第4335218號

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

大面積不變形光斑取像置裝與其方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 98 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 光電感測辨識模組與應用技術計畫 | 專利發明人: 黃宜裕、陳銘、王茂燃、黃文政、馬心一 | 證書號碼: US7593113B2

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

Large Areas Undistorted Imaging Apparatus For Light Speckles And Method Thereof

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 99 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 光電感測辨識模組與應用技術計畫 | 專利發明人: 黃宜裕,陳銘,王茂燃,黃文政,馬心一,黃欽德,劉光新 | 證書號碼: US7,593,113B2

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

光斑取像裝置與方法

核准國家: 日本 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 98 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 光電感測辨識模組與應用技術計畫 | 專利發明人: 黃宜裕、陳銘、王茂燃、黃文政、馬心一 | 證書號碼: 特許第4335218號

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

大面積不變形光斑取像置裝與其方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 98 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 光電感測辨識模組與應用技術計畫 | 專利發明人: 黃宜裕、陳銘、王茂燃、黃文政、馬心一 | 證書號碼: US7593113B2

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# 03-4712201 359354 於 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集 - 1

序號2201
產出年度96
技術名稱-中文不變形光斑取像技術
執行單位中科院材料所
產出單位(空)
計畫名稱光電輸出入模組與應用技術計畫
領域(空)
已申請專利之國家(空)
已獲得專利之國家(空)
技術現況敘述-中文一種不變形光斑取像裝置與方法,係由光源發射一高同調性光,該高同調性光照射表面時,產生散射光,利用非鏡面反射二維光斑取像裝置,在散射角與反射角相差約10的位置來量取光斑影像,並引進限光件,限制了被照面散射光進入二維偵檢器的入射視場角,即限制了物平面取像範圍。在適當整合光斑大小、取像透鏡焦距、取像角度及取像物平面範圍等參數,可以得到在像平面產生之光斑影像幾乎不變形的效果。所謂光斑不變形是指,取像裝置與物平面有相對移動時,像平面上的光斑也跟著移動,但是從出現到移出二維偵檢器的觀測範圍的過程中,光斑形狀及強度幾乎沒有變化。由於本發明的光斑取像裝置與方法所取得的光斑在移動時不會變形,因此非常有利於精密光斑圖形識別與定位。
技術現況敘述-英文(空)
技術規格在光斑影像不變形條件下,光斑取像裝置與觀測物面相對運動之可移動距離與取像裝置之鏡心到物面距離有關,理論及實驗證實當取像透鏡焦距為13.6mm時,不變形光斑取像可移動距離超過340um,且因為光斑影像不變形,因此會有很好角度解析及定位精度,角度解析度達到取像位元半長度除以取像畫面之長度,重複定位精度可達取像位元半長度。
技術成熟度雛型
可應用範圍本技術可應用於專業級滑鼠、精密手指導覽器、精密光學追跡之光斑筆、無法複製之智慧卡、精密工作母機自動定位系統,機械手臂定位器、無法仿冒之三維指紋識別器。
潛力預估由於本技術已有輕薄短小量產型雷射滑鼠光電讀取頭雛形產品設計,未來將繼續發展不同應用之光電讀取頭及相關軟硬體,從3C產業之個人隨身裝置,到工業精密自動系統,到金融等級身分識別系統等,預估持續開發本技術將可為國內廠商開發出數個領域之指標性產品。
聯絡人員黃宜裕/先生;張捷修/先生
電話03-4712201 # 359354;#359361
傳真03-4718122
電子信箱yiyuh.hwang@msa.hinet.net
參考網址(空)
所須軟硬體設備精密CCD攝影機、個人電腦、機械手臂、半導體雷射
需具備之專業人才光電、電子、資訊(影像處理)、物理等專才
序號: 2201
產出年度: 96
技術名稱-中文: 不變形光斑取像技術
執行單位: 中科院材料所
產出單位: (空)
計畫名稱: 光電輸出入模組與應用技術計畫
領域: (空)
已申請專利之國家: (空)
已獲得專利之國家: (空)
技術現況敘述-中文: 一種不變形光斑取像裝置與方法,係由光源發射一高同調性光,該高同調性光照射表面時,產生散射光,利用非鏡面反射二維光斑取像裝置,在散射角與反射角相差約10的位置來量取光斑影像,並引進限光件,限制了被照面散射光進入二維偵檢器的入射視場角,即限制了物平面取像範圍。在適當整合光斑大小、取像透鏡焦距、取像角度及取像物平面範圍等參數,可以得到在像平面產生之光斑影像幾乎不變形的效果。所謂光斑不變形是指,取像裝置與物平面有相對移動時,像平面上的光斑也跟著移動,但是從出現到移出二維偵檢器的觀測範圍的過程中,光斑形狀及強度幾乎沒有變化。由於本發明的光斑取像裝置與方法所取得的光斑在移動時不會變形,因此非常有利於精密光斑圖形識別與定位。
技術現況敘述-英文: (空)
技術規格: 在光斑影像不變形條件下,光斑取像裝置與觀測物面相對運動之可移動距離與取像裝置之鏡心到物面距離有關,理論及實驗證實當取像透鏡焦距為13.6mm時,不變形光斑取像可移動距離超過340um,且因為光斑影像不變形,因此會有很好角度解析及定位精度,角度解析度達到取像位元半長度除以取像畫面之長度,重複定位精度可達取像位元半長度。
技術成熟度: 雛型
可應用範圍: 本技術可應用於專業級滑鼠、精密手指導覽器、精密光學追跡之光斑筆、無法複製之智慧卡、精密工作母機自動定位系統,機械手臂定位器、無法仿冒之三維指紋識別器。
潛力預估: 由於本技術已有輕薄短小量產型雷射滑鼠光電讀取頭雛形產品設計,未來將繼續發展不同應用之光電讀取頭及相關軟硬體,從3C產業之個人隨身裝置,到工業精密自動系統,到金融等級身分識別系統等,預估持續開發本技術將可為國內廠商開發出數個領域之指標性產品。
聯絡人員: 黃宜裕/先生;張捷修/先生
電話: 03-4712201 # 359354;#359361
傳真: 03-4718122
電子信箱: yiyuh.hwang@msa.hinet.net
參考網址: (空)
所須軟硬體設備: 精密CCD攝影機、個人電腦、機械手臂、半導體雷射
需具備之專業人才: 光電、電子、資訊(影像處理)、物理等專才

# 03-4712201 359354 於 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集 - 2

序號2558
產出年度97
技術名稱-中文雷射光斑二維精密定位技術
執行單位中科院材料所
產出單位(空)
計畫名稱光電輸出入模組與應用技術計畫
領域(空)
已申請專利之國家(空)
已獲得專利之國家(空)
技術現況敘述-中文利用不變形光斑取像技術及光斑影像精密比對技術,可以做機械加工機之二維精密定位,絕對定位精度小於10um。
技術現況敘述-英文(空)
技術規格定位面積:30x30平方公分絕對定位精度小於10um重覆定位精度小於10um。
技術成熟度雛型
可應用範圍可廣泛應用各種工業加工機之二維精密定位。
潛力預估對國內精密機械加工業的技術提升與產業加值有非常大幫助。
聯絡人員黃文政
電話03-4712201#359354
傳真03-4711024
電子信箱csist_mrdc@csnet.gov.tw
參考網址(空)
所須軟硬體設備二維精密平移台或機械手臂。
需具備之專業人才光電工程師、機械工程師
序號: 2558
產出年度: 97
技術名稱-中文: 雷射光斑二維精密定位技術
執行單位: 中科院材料所
產出單位: (空)
計畫名稱: 光電輸出入模組與應用技術計畫
領域: (空)
已申請專利之國家: (空)
已獲得專利之國家: (空)
技術現況敘述-中文: 利用不變形光斑取像技術及光斑影像精密比對技術,可以做機械加工機之二維精密定位,絕對定位精度小於10um。
技術現況敘述-英文: (空)
技術規格: 定位面積:30x30平方公分絕對定位精度小於10um重覆定位精度小於10um。
技術成熟度: 雛型
可應用範圍: 可廣泛應用各種工業加工機之二維精密定位。
潛力預估: 對國內精密機械加工業的技術提升與產業加值有非常大幫助。
聯絡人員: 黃文政
電話: 03-4712201#359354
傳真: 03-4711024
電子信箱: csist_mrdc@csnet.gov.tw
參考網址: (空)
所須軟硬體設備: 二維精密平移台或機械手臂。
需具備之專業人才: 光電工程師、機械工程師

# 03-4712201 359354 於 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集 - 3

序號4284
產出年度99
技術名稱-中文無法複製之身分識別技術
執行單位中科院材料所
產出單位(空)
計畫名稱光電感測辨識模組與應用技術計畫
領域(空)
已申請專利之國家(空)
已獲得專利之國家(空)
技術現況敘述-中文完成光斑卡製作及身分識別軟體撰寫與測試,正進行展示雛形系統整合。
技術現況敘述-英文(空)
技術規格1.單張身分卡識別時間小於1秒 2.ID識別卡錯判接受率:
技術成熟度雛形
可應用範圍可應用於各種較機敏性業務之無法複製身分識別需求
潛力預估將會為本國產業開創新的市場,預估每年可產出5億元以上之相關商品
聯絡人員黃宜裕
電話03-4712201#359354
傳真03-4711024
電子信箱csist_mrdc@csnet.gov.tw
參考網址無。
所須軟硬體設備需要光斑卡讀取裝置、光斑影像識別軟體及個人電腦
需具備之專業人才光電、電子相關背景
序號: 4284
產出年度: 99
技術名稱-中文: 無法複製之身分識別技術
執行單位: 中科院材料所
產出單位: (空)
計畫名稱: 光電感測辨識模組與應用技術計畫
領域: (空)
已申請專利之國家: (空)
已獲得專利之國家: (空)
技術現況敘述-中文: 完成光斑卡製作及身分識別軟體撰寫與測試,正進行展示雛形系統整合。
技術現況敘述-英文: (空)
技術規格: 1.單張身分卡識別時間小於1秒 2.ID識別卡錯判接受率:
技術成熟度: 雛形
可應用範圍: 可應用於各種較機敏性業務之無法複製身分識別需求
潛力預估: 將會為本國產業開創新的市場,預估每年可產出5億元以上之相關商品
聯絡人員: 黃宜裕
電話: 03-4712201#359354
傳真: 03-4711024
電子信箱: csist_mrdc@csnet.gov.tw
參考網址: 無。
所須軟硬體設備: 需要光斑卡讀取裝置、光斑影像識別軟體及個人電腦
需具備之專業人才: 光電、電子相關背景

# 03-4712201 359354 於 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集 - 4

序號5178
產出年度100
技術名稱-中文雷射光斑導覽技術
執行單位中科院材料所
產出單位(空)
計畫名稱光電感測辨識模組與應用技術計畫
領域(空)
已申請專利之國家(空)
已獲得專利之國家(空)
技術現況敘述-中文完成精密絕對定位軟體撰寫與測試,進行展示雛形系統整合。
技術現況敘述-英文(空)
技術規格高靈敏度指控滑板模組(光學位移感測器線性度誤差小於 1.6%、角度解析度達 0.9度、在信號處理速度6000fps時,滑板移動速度可達1.2m/s)
技術成熟度實驗室階段
可應用範圍指控滑板電視遙控器及相關手指導覽器等產品
潛力預估初期產品以家電賣場及家電廠為販售目標,保守估計國外與國內市場販售以10萬台為目標,年產值預估可達5億元。 2012年Smart TV 預估可操過1億台,以市佔率2%估算,未來OEM市場中將有每年高達60億元以上的產值效益。
聯絡人員黃宜裕
電話03-4712201#359354
傳真03-4711024
電子信箱csist_mrdc@csnet.gov.tw
參考網址
所須軟硬體設備需要干涉儀裝置、定位分析軟體及個人電腦
需具備之專業人才光電、電子相關背景
序號: 5178
產出年度: 100
技術名稱-中文: 雷射光斑導覽技術
執行單位: 中科院材料所
產出單位: (空)
計畫名稱: 光電感測辨識模組與應用技術計畫
領域: (空)
已申請專利之國家: (空)
已獲得專利之國家: (空)
技術現況敘述-中文: 完成精密絕對定位軟體撰寫與測試,進行展示雛形系統整合。
技術現況敘述-英文: (空)
技術規格: 高靈敏度指控滑板模組(光學位移感測器線性度誤差小於 1.6%、角度解析度達 0.9度、在信號處理速度6000fps時,滑板移動速度可達1.2m/s)
技術成熟度: 實驗室階段
可應用範圍: 指控滑板電視遙控器及相關手指導覽器等產品
潛力預估: 初期產品以家電賣場及家電廠為販售目標,保守估計國外與國內市場販售以10萬台為目標,年產值預估可達5億元。 2012年Smart TV 預估可操過1億台,以市佔率2%估算,未來OEM市場中將有每年高達60億元以上的產值效益。
聯絡人員: 黃宜裕
電話: 03-4712201#359354
傳真: 03-4711024
電子信箱: csist_mrdc@csnet.gov.tw
參考網址:
所須軟硬體設備: 需要干涉儀裝置、定位分析軟體及個人電腦
需具備之專業人才: 光電、電子相關背景

# 03-4712201 359354 於 經濟部產業技術司–專利資料集 - 5

序號3847
產出年度96
領域別(空)
專利名稱-中文光斑取像裝置與方法
執行單位中科院材料所
產出單位(空)
計畫名稱光電輸出入模組與應用技術計畫
專利發明人黃宜裕
核准國家中華民國
獲證日期(空)
證書號碼發明第 I 275781號
專利期間起(空)
專利期間訖(空)
專利性質發明
技術摘要-中文一種光斑取像裝置與方法,係由光源發射一高同調性光,且高同調性光照射表面時,進而產生散射光,此散射光通過限光件,因限光件之孔徑效應使散射光發生繞射效應而產生繞射光,此繞射光彼此干涉而產生光斑,並且因為限光件的阻擋作用,限制了散射光進入感測器之入射視角進而降低光斑移動時之變形量,最後感測器擷取此光斑而成為光斑圖,連續比對此光斑圖,可辨識光斑之移動方向及大小。所以本發明係利用了繞射、干涉效應及限制了散射光入射視角,使光斑的尺寸可變大,並且可降低光斑之變形量,使光斑的圖像清晰,容易辨別。因此,本發明的光斑取像裝置與方法可以很穩定,且很靈敏。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員黃宜裕
電話03-4712201轉359354
傳真03-4712201
電子信箱(空)
參考網址(空)
備註原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸
特殊情形(空)
序號: 3847
產出年度: 96
領域別: (空)
專利名稱-中文: 光斑取像裝置與方法
執行單位: 中科院材料所
產出單位: (空)
計畫名稱: 光電輸出入模組與應用技術計畫
專利發明人: 黃宜裕
核准國家: 中華民國
獲證日期: (空)
證書號碼: 發明第 I 275781號
專利期間起: (空)
專利期間訖: (空)
專利性質: 發明
技術摘要-中文: 一種光斑取像裝置與方法,係由光源發射一高同調性光,且高同調性光照射表面時,進而產生散射光,此散射光通過限光件,因限光件之孔徑效應使散射光發生繞射效應而產生繞射光,此繞射光彼此干涉而產生光斑,並且因為限光件的阻擋作用,限制了散射光進入感測器之入射視角進而降低光斑移動時之變形量,最後感測器擷取此光斑而成為光斑圖,連續比對此光斑圖,可辨識光斑之移動方向及大小。所以本發明係利用了繞射、干涉效應及限制了散射光入射視角,使光斑的尺寸可變大,並且可降低光斑之變形量,使光斑的圖像清晰,容易辨別。因此,本發明的光斑取像裝置與方法可以很穩定,且很靈敏。
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 黃宜裕
電話: 03-4712201轉359354
傳真: 03-4712201
電子信箱: (空)
參考網址: (空)
備註: 原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸
特殊情形: (空)

# 03-4712201 359354 於 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集 - 6

序號7307
產出年度103
技術名稱-中文高精度光斑定位角度感測器開發計畫
執行單位中科院材料暨光電研究所─固態元件組
產出單位(空)
計畫名稱光電半導體元件與系統應用關鍵計畫
領域綠能科技
已申請專利之國家
已獲得專利之國家
技術現況敘述-中文開發高速CMOS影像感測器並應用於光斑解角器中
技術現況敘述-英文(空)
技術規格(1)絕對定位精度:1um (2)光斑影像感測速率:8KHz
技術成熟度實驗室階段
可應用範圍識別、絕對定位、雷射光斑滑控器、光斑尺、解角器
潛力預估
聯絡人員陳信彰 黃宜裕
電話03-4712201#357074 03-4712201#359354
傳真(空)
電子信箱hcchen0429@gmail.com
參考網址(空)
所須軟硬體設備電路設計軟體、多軸加工機具
需具備之專業人才機械設計、電機電子、資訊軟體
序號: 7307
產出年度: 103
技術名稱-中文: 高精度光斑定位角度感測器開發計畫
執行單位: 中科院材料暨光電研究所─固態元件組
產出單位: (空)
計畫名稱: 光電半導體元件與系統應用關鍵計畫
領域: 綠能科技
已申請專利之國家:
已獲得專利之國家:
技術現況敘述-中文: 開發高速CMOS影像感測器並應用於光斑解角器中
技術現況敘述-英文: (空)
技術規格: (1)絕對定位精度:1um (2)光斑影像感測速率:8KHz
技術成熟度: 實驗室階段
可應用範圍: 識別、絕對定位、雷射光斑滑控器、光斑尺、解角器
潛力預估:
聯絡人員: 陳信彰 黃宜裕
電話: 03-4712201#357074 03-4712201#359354
傳真: (空)
電子信箱: hcchen0429@gmail.com
參考網址: (空)
所須軟硬體設備: 電路設計軟體、多軸加工機具
需具備之專業人才: 機械設計、電機電子、資訊軟體

# 03-4712201 359354 於 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集 - 7

序號3148
產出年度98
技術名稱-中文光斑卡身分識別技術
執行單位中科院材料所
產出單位(空)
計畫名稱光電感測辨識模組與應用技術計畫
領域(空)
已申請專利之國家(空)
已獲得專利之國家(空)
技術現況敘述-中文完成光斑卡製作及身分識別軟體撰寫與測試,正進行展示雛形系統整合
技術現況敘述-英文(空)
技術規格1.單張身分卡識別時間小於1秒 2.ID識別卡錯判接受率:
技術成熟度雛形
可應用範圍可應用於各種較機敏性業務之無法複製身分識別需求
潛力預估將會為本國產業開創新的市場,預估每年可產出5億元以上之相關商品
聯絡人員黃宜裕
電話03-4712201轉359354
傳真03-4711024
電子信箱csist_mrdc@csnet.gov.tw
參考網址
所須軟硬體設備需要光斑卡讀取裝置、光斑影像識別軟體及個人電腦
需具備之專業人才需要會使用個人電腦
序號: 3148
產出年度: 98
技術名稱-中文: 光斑卡身分識別技術
執行單位: 中科院材料所
產出單位: (空)
計畫名稱: 光電感測辨識模組與應用技術計畫
領域: (空)
已申請專利之國家: (空)
已獲得專利之國家: (空)
技術現況敘述-中文: 完成光斑卡製作及身分識別軟體撰寫與測試,正進行展示雛形系統整合
技術現況敘述-英文: (空)
技術規格: 1.單張身分卡識別時間小於1秒 2.ID識別卡錯判接受率:
技術成熟度: 雛形
可應用範圍: 可應用於各種較機敏性業務之無法複製身分識別需求
潛力預估: 將會為本國產業開創新的市場,預估每年可產出5億元以上之相關商品
聯絡人員: 黃宜裕
電話: 03-4712201轉359354
傳真: 03-4711024
電子信箱: csist_mrdc@csnet.gov.tw
參考網址:
所須軟硬體設備: 需要光斑卡讀取裝置、光斑影像識別軟體及個人電腦
需具備之專業人才: 需要會使用個人電腦
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與Image Invariant Optical Speckle Capturing Device And Method同分類的經濟部產業技術司–專利資料集

一種非晶質合金基地結構材料鑄造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 功能性材料應用研究發展四年計畫 | 專利發明人: 林於隆、鄭榮瑞、陳俊雄、葉建宏、張忠柄、游進祥、王漢能 | 證書號碼: 發明第224985號

利用凝膠法製作長效型磷光微細粉末之方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院化學所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 王健源、劉如熹、王進龍、蔡吉清、徐敏瑜、張錦泉 | 證書號碼: 第188134號

具條狀遮罩之氮化鎵雷射二極體

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 藍文厚、項裕德、林家慶、林科均、彭開鋒、程亞桐 | 證書號碼: 第191924號

Digital camera DIY wireless photo print device

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 徐瑞明、陳黎光、林泰勇、王秋涼 | 證書號碼: US 6,650,356 B2

眼控輔助駕駛系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 林宸生、葉茂勳、鄭文政、詹兆寧、吳宗翰、蔣慧芬 | 證書號碼: 第194312號

偏極分光反射成像之眼球視線檢測裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 林宸生、葉茂勳、郭道宏、賴良材 | 證書號碼: 第223933號

一種光源發射功率之空間二維分佈量測方法及其裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 莊正當、詹黃宗 | 證書號碼: 第203097號

以辨識虹膜進行門禁及差勤管制及健康諮詢管理之方法及裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 林宸生、葉茂勳、陳弦澤、蔣慧芬、許孝義 | 證書號碼: 第206805號

針對頻譜具有平坦或選擇響應之可調光式光電二極體架構方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 戴禮國、翁炳國、季法文、黃廣鑫、陳自強、劉維鈞 | 證書號碼: 第207088號

結合模殼與模座的方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院化學所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 吳貞欽、張家華、王明仁 | 證書號碼: 第I 224045號

Sample injection device for gas chromatography

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 功能性微細結構四年計畫 | 專利發明人: 柯賢文、李文雄、王富祥、邱宗蔚 | 證書號碼: US 6,718,817 B1

可程控電容式微泵浦

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 功能性微細結構四年計畫 | 專利發明人: 楊聲震、吳憲明、郭飛虎、陳順林、楊貴朱、王政揚 | 證書號碼: 195367

微加工無閥磁流動力微幫浦

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 功能性微細結構四年計畫 | 專利發明人: 康德人、黃科志、吳憲明、郭飛虎、陳順林 | 證書號碼: 217793

近場光學讀寫系統的跟蹤誤差檢測方法與裝置

核准國家: 中國大陸 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 喬作文, 吳國瑞, 黃得瑞 | 證書號碼: ZL00103540.1

生醫晶片檢測裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 朱朝居, 黃得瑞, 楊子平 | 證書號碼: 220926

一種非晶質合金基地結構材料鑄造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 功能性材料應用研究發展四年計畫 | 專利發明人: 林於隆、鄭榮瑞、陳俊雄、葉建宏、張忠柄、游進祥、王漢能 | 證書號碼: 發明第224985號

利用凝膠法製作長效型磷光微細粉末之方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院化學所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 王健源、劉如熹、王進龍、蔡吉清、徐敏瑜、張錦泉 | 證書號碼: 第188134號

具條狀遮罩之氮化鎵雷射二極體

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 藍文厚、項裕德、林家慶、林科均、彭開鋒、程亞桐 | 證書號碼: 第191924號

Digital camera DIY wireless photo print device

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 徐瑞明、陳黎光、林泰勇、王秋涼 | 證書號碼: US 6,650,356 B2

眼控輔助駕駛系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 林宸生、葉茂勳、鄭文政、詹兆寧、吳宗翰、蔣慧芬 | 證書號碼: 第194312號

偏極分光反射成像之眼球視線檢測裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 林宸生、葉茂勳、郭道宏、賴良材 | 證書號碼: 第223933號

一種光源發射功率之空間二維分佈量測方法及其裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 莊正當、詹黃宗 | 證書號碼: 第203097號

以辨識虹膜進行門禁及差勤管制及健康諮詢管理之方法及裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 林宸生、葉茂勳、陳弦澤、蔣慧芬、許孝義 | 證書號碼: 第206805號

針對頻譜具有平坦或選擇響應之可調光式光電二極體架構方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 戴禮國、翁炳國、季法文、黃廣鑫、陳自強、劉維鈞 | 證書號碼: 第207088號

結合模殼與模座的方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院化學所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 吳貞欽、張家華、王明仁 | 證書號碼: 第I 224045號

Sample injection device for gas chromatography

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 功能性微細結構四年計畫 | 專利發明人: 柯賢文、李文雄、王富祥、邱宗蔚 | 證書號碼: US 6,718,817 B1

可程控電容式微泵浦

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 功能性微細結構四年計畫 | 專利發明人: 楊聲震、吳憲明、郭飛虎、陳順林、楊貴朱、王政揚 | 證書號碼: 195367

微加工無閥磁流動力微幫浦

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 功能性微細結構四年計畫 | 專利發明人: 康德人、黃科志、吳憲明、郭飛虎、陳順林 | 證書號碼: 217793

近場光學讀寫系統的跟蹤誤差檢測方法與裝置

核准國家: 中國大陸 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 喬作文, 吳國瑞, 黃得瑞 | 證書號碼: ZL00103540.1

生醫晶片檢測裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 朱朝居, 黃得瑞, 楊子平 | 證書號碼: 220926

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