射頻標籤測試天線之極化率的補償裝置與方法
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文射頻標籤測試天線之極化率的補償裝置與方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是I394317, 專利期間起是102/04/21, 專利期間訖是119/12/20, 專利性質是發明, 執行單位是工研院服科中心, 產出年度是102, 計畫名稱是智慧生活科技運用計畫, 專利發明人是洪明國 ,張博光 ,游上賢.

序號	11166
產出年度	102
領域別	研發服務
專利名稱-中文	射頻標籤測試天線之極化率的補償裝置與方法
執行單位	工研院服科中心
產出單位	工研院服科中心
計畫名稱	智慧生活科技運用計畫
專利發明人	洪明國 \| 張博光 \| 游上賢
核准國家	中華民國
獲證日期	102/05/02
證書號碼	I394317
專利期間起	102/04/21
專利期間訖	119/12/20
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種射頻標籤測試天線之極化率的補償方法，包括下列步驟。設定射頻標籤(或已貼標籤的產品)的初始位置，以取得一初始向量。射頻標籤以第一軸線，天線以第二軸線旋轉，可測出射頻標籤全方位的特性，其中第一軸線與第二軸線垂直。依據射頻標籤的初始向量與射頻標籤旋轉後的位置，計算射頻標籤的極化角度。依據極化角度，利用一查表取得補償值，對天線的極化率進行補償。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	Jung-Fang Ho
電話	(03)5914006
傳真	(03)5716231
電子信箱	mimi@itri.org.tw
參考網址	(空)
備註	(空)
特殊情形	(空)

序號

11166

產出年度

102

領域別

研發服務

專利名稱-中文

射頻標籤測試天線之極化率的補償裝置與方法

執行單位

工研院服科中心

產出單位

工研院服科中心

計畫名稱

智慧生活科技運用計畫

專利發明人

洪明國 | 張博光 | 游上賢

核准國家

中華民國

獲證日期

102/05/02

證書號碼

I394317

專利期間起

102/04/21

專利期間訖

119/12/20

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種射頻標籤測試天線之極化率的補償方法，包括下列步驟。設定射頻標籤(或已貼標籤的產品)的初始位置，以取得一初始向量。射頻標籤以第一軸線，天線以第二軸線旋轉，可測出射頻標籤全方位的特性，其中第一軸線與第二軸線垂直。依據射頻標籤的初始向量與射頻標籤旋轉後的位置，計算射頻標籤的極化角度。依據極化角度，利用一查表取得補償值，對天線的極化率進行補償。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

Jung-Fang Ho

電話

(03)5914006

傳真

(03)5716231

電子信箱

mimi@itri.org.tw

參考網址

(空)

備註

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特殊情形

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射頻測試方法與裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I528744 \| 專利期間起: 105/04/01 \| 專利期間訖: 119/12/15 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院服科中心 \| 產出年度: 105 \| 計畫名稱: 智慧LOHAS服務開發/技術應用與多元場域驗證計畫 \| 專利發明人: 洪明國 \| 張博光 \| 游上賢 \| 徐國昌 @ 技術司專利資料集
Apparatus and method for compensating the axial ratio of an antenna for testing RFID tag	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8,374,555 \| 專利期間起: 102/02/12 \| 專利期間訖: 120/09/26 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院服科中心 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 智慧生活科技運用計畫 \| 專利發明人: 洪明國 \| 張博光 \| 游上賢 @ 技術司專利資料集
Apparatus and method for compensating the axial ratio of an antenna for testing RFID tags	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8374555 \| 專利期間起: 102/02/12 \| 專利期間訖: 120/09/26 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院服科中心 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 智慧生活科技運用計畫 \| 專利發明人: 洪明國 \| 張博光 \| 游上賢 @ 技術司專利資料集

射頻測試方法與裝置

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Apparatus and method for compensating the axial ratio of an antenna for testing RFID tag

@ 技術司專利資料集

Apparatus and method for compensating the axial ratio of an antenna for testing RFID tags

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二片式繞射/折射複合型成像系統	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,724,532 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 傅春能 \| 林宗信 \| 林信義 \| 陸懋宏 \| 徐得銘
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分離脆性材料的切割刀頭機構	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6782883 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 陳貴榮 \| 陳孟群 \| 賴志一
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光準直器自動組裝系統改良結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 210229 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 黃相宇 \| 劉松河 \| 邱顯森
光纖準直器自動化組裝系統改良結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 219577 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 劉松河 \| 黃相宇 \| 邱顯森
用于納米轉印的平行度調整裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03257537.8 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 陳明祈 \| 馮文宏 \| 陳釧鋒 \| 許嘉峻 \| 林家弘 \| 鍾永鎮
用於奈米轉印之平行度調整裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 217025 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 陳明祈 \| 馮文宏 \| 陳釧鋒 \| 許嘉峻 \| 林家弘 \| 鍾永鎮
用于納米轉印的均勻施壓裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03257536.X \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 鍾永鎮 \| 林家弘 \| 許嘉峻 \| 陳釧鋒 \| 馮文宏 \| 陳明祈
用於奈米轉印之均勻施壓裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 217875 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 鍾永鎮 \| 林家弘 \| 許嘉峻 \| 陳釧鋒 \| 馮文宏 \| 陳明祈

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執行單位

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