專利名稱-中文可轉移的可撓式電子裝置結構及可撓式電子裝置的製造方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是I419091, 專利期間起是118/02/09, 專利期間訖是高阻氣性基板製程技術, 專利性質是發明, 執行單位是工研院顯示中心, 產出年度是103, 計畫名稱是軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫, 專利發明人是蔡寶鳴、江良祐 、張悠揚 、李宏元.
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根據名稱 可轉移的可撓式電子裝置結構及可撓式電子裝置的製造方法 找到的相關資料
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8715802 | 專利期間起: 120/04/11 | 專利期間訖: 高阻氣性基板製程技術 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 蔡寶鳴 | 江良祐 | 張悠揚 | 李宏元 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8715802 | 專利期間起: 120/04/11 | 專利期間訖: 高阻氣性基板製程技術 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 蔡寶鳴 | 江良祐 | 張悠揚 | 李宏元 @ 技術司專利資料集 |
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根據姓名 蔡寶鳴 江良祐 張悠揚 李宏元 找到的相關資料
| 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200910127232.2 | 專利期間起: 118/03/08 | 專利期間訖: 高阻氣性基板製程技術 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 蔡寶鳴 | 江良祐 | 張悠揚 | 李宏元 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200910127232.2 | 專利期間起: 118/03/08 | 專利期間訖: 高阻氣性基板製程技術 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 蔡寶鳴 | 江良祐 | 張悠揚 | 李宏元 @ 技術司專利資料集 |
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(以下顯示 4 筆) (或要:直接搜尋所有 03-5913714 ...) | 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8720365 | 專利期間起: 120/07/20 | 專利期間訖: 先進軟性顯示列印覆膜平台 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 鄭兆凱 | 邱琬雯 | 李裕正 | 廖元正 | 胥智文 | 楊仁傑 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I443784 | 專利期間起: 119/07/28 | 專利期間訖: 軟性有機主動面板製程整合技術 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 陳光榮 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8624134 | 專利期間起: 120/12/27 | 專利期間訖: 軟性有機主動面板製程整合技術 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 陳光榮 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I434404 | 專利期間起: 119/12/06 | 專利期間訖: 軟性顯示器之彩色量測標準實驗平台 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 盧敏曜 | 張婷婷 | 陳孟懌 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8720365 | 專利期間起: 120/07/20 | 專利期間訖: 先進軟性顯示列印覆膜平台 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 鄭兆凱 | 邱琬雯 | 李裕正 | 廖元正 | 胥智文 | 楊仁傑 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I443784 | 專利期間起: 119/07/28 | 專利期間訖: 軟性有機主動面板製程整合技術 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 陳光榮 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8624134 | 專利期間起: 120/12/27 | 專利期間訖: 軟性有機主動面板製程整合技術 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 陳光榮 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I434404 | 專利期間起: 119/12/06 | 專利期間訖: 軟性顯示器之彩色量測標準實驗平台 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 | 專利發明人: 盧敏曜 | 張婷婷 | 陳孟懌 @ 技術司專利資料集 |
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與可轉移的可撓式電子裝置結構及可撓式電子裝置的製造方法同分類的技術司專利資料集
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195331 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳中屏 | 陳振鑾 | 施志哲 | 陳致源 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 202724 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 魏碧玉 | 賴宏仁 | 蘇平貴 | 吳仁彰 | 林鴻明 | 孫益陸 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 190616 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李文錦 | 周淑金 | 葉信宏 | 陳冠良 | 謝坤龍 | 陳銘倫 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,707,499 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 貢振邦 | 林子平 | 尤智仕 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192948 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,763,230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189588 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李青峰 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195331 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳中屏 | 陳振鑾 | 施志哲 | 陳致源 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 202724 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 魏碧玉 | 賴宏仁 | 蘇平貴 | 吳仁彰 | 林鴻明 | 孫益陸 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 190616 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李文錦 | 周淑金 | 葉信宏 | 陳冠良 | 謝坤龍 | 陳銘倫 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,707,499 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 貢振邦 | 林子平 | 尤智仕 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192948 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,763,230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189588 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李青峰 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
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