銅銦鎵硒(CIGS)太陽電池元件
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技術名稱-中文銅銦鎵硒(CIGS)太陽電池元件的執行單位是中科院材料所, 產出年度是96, 計畫名稱是新世代能源材料關鍵技術開發四年計畫, 技術規格是1.銅銦鎵硒CIGS主吸收薄膜:Cu:In:Ga:Se=1:0.7:0.3:2、硒化反應。_x000D_2.硒化鋅ZnSe(緩衝層):真空蒸鍍法、膜厚100nm。_x000D_3.氧化鋁鋅AZO(透明導電電極):達到85%光穿透度、1*10-3Ω/□_x000D_4.元件結構:Al/AZO/ZnSe..., 潛力預估是3C電子產業、居家型太陽能模組、可攜帶型太陽電池等.

序號2194
產出年度96
技術名稱-中文銅銦鎵硒(CIGS)太陽電池元件
執行單位中科院材料所
產出單位(空)
計畫名稱新世代能源材料關鍵技術開發四年計畫
領域(空)
已申請專利之國家(空)
已獲得專利之國家(空)
技術現況敘述-中文本計畫技術開發可供靶材濺鍍,運用真空鍍膜技術在玻璃基板上製作鉬(下電極)、銅銦鎵硒(CIGS)(主吸收層)、硒化鋅ZnSe(緩衝層)、氧化鋁鋅AZO(透明導電電極)、鋁Al(上電極),構成太陽能光電元件。
技術現況敘述-英文(空)
技術規格1.銅銦鎵硒CIGS主吸收薄膜:Cu:In:Ga:Se=1:0.7:0.3:2、硒化反應。_x000D_2.硒化鋅ZnSe(緩衝層):真空蒸鍍法、膜厚100nm。_x000D_3.氧化鋁鋅AZO(透明導電電極):達到85%光穿透度、1*10-3Ω/□_x000D_4.元件結構:Al/AZO/ZnSe/CIGS/Mo/Soda Lime Glass,尺寸大小:2”x2”_x000D_
技術成熟度實驗室階段
可應用範圍太陽能電池、光電轉換元件
潛力預估3C電子產業、居家型太陽能模組、可攜帶型太陽電池等
聯絡人員吳政翰
電話03-4711334#357057
傳真03-4711334
電子信箱csist_mrdc@csnet.gov.tw
參考網址(空)
所須軟硬體設備蒸鍍機、濺鍍機(RF power、DC power)、硒化反應爐、元件成分分析儀、無塵潔靜室
需具備之專業人才化工、材料、電子相關背景
同步更新日期2024-09-03

序號

2194

產出年度

96

技術名稱-中文

銅銦鎵硒(CIGS)太陽電池元件

執行單位

中科院材料所

產出單位

(空)

計畫名稱

新世代能源材料關鍵技術開發四年計畫

領域

(空)

已申請專利之國家

(空)

已獲得專利之國家

(空)

技術現況敘述-中文

本計畫技術開發可供靶材濺鍍,運用真空鍍膜技術在玻璃基板上製作鉬(下電極)、銅銦鎵硒(CIGS)(主吸收層)、硒化鋅ZnSe(緩衝層)、氧化鋁鋅AZO(透明導電電極)、鋁Al(上電極),構成太陽能光電元件。

技術現況敘述-英文

(空)

技術規格

1.銅銦鎵硒CIGS主吸收薄膜:Cu:In:Ga:Se=1:0.7:0.3:2、硒化反應。_x000D_2.硒化鋅ZnSe(緩衝層):真空蒸鍍法、膜厚100nm。_x000D_3.氧化鋁鋅AZO(透明導電電極):達到85%光穿透度、1*10-3Ω/□_x000D_4.元件結構:Al/AZO/ZnSe/CIGS/Mo/Soda Lime Glass,尺寸大小:2”x2”_x000D_

技術成熟度

實驗室階段

可應用範圍

太陽能電池、光電轉換元件

潛力預估

3C電子產業、居家型太陽能模組、可攜帶型太陽電池等

聯絡人員

吳政翰

電話

03-4711334#357057

傳真

03-4711334

電子信箱

csist_mrdc@csnet.gov.tw

參考網址

(空)

所須軟硬體設備

蒸鍍機、濺鍍機(RF power、DC power)、硒化反應爐、元件成分分析儀、無塵潔靜室

需具備之專業人才

化工、材料、電子相關背景

同步更新日期

2024-09-03

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可撓式基板之銅銦鎵硒太陽電池元件驗證

執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 100 | 產出單位: | 計畫名稱: 新世代能源關鍵技術開發計畫 | 領域: | 技術規格: 1.以四元共蒸鍍驗證玻璃基材與可撓式金屬基材之CIGS太陽電池元件 2.可採用無鎘化物進行CIGS元件製備 3.基材尺寸8cm x 8cm 4.基材/Bi-layerMo/CIGS/Buffer la... | 潛力預估: 1.預計未來可建立4MW的試量產線 2.100MW產量且產值可達30億

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銅銦鎵硒(CIGS)薄膜式太陽能電池產製技術

執行單位: 中科院飛彈火箭研究所 | 產出年度: 105 | 產出單位: | 計畫名稱: 大面積RTP硒/硫化製程技術暨設備自主開發計畫 | 領域: 綠能科技 | 技術規格: 完成整線現製程技術暨模組產品試製模組批次式元件效率達12~15%,卷式元件切割與邊緣絕緣化之製程技術建立及後段模組封裝所需元件之上電極進行批次式網印。 | 潛力預估: 完成整線現製程技術暨模組產品試製模組批次式元件效率達12~15%

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可撓式基板之銅銦鎵硒太陽電池元件驗證

執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 100 | 產出單位: | 計畫名稱: 新世代能源關鍵技術開發計畫 | 領域: | 技術規格: 1.以四元共蒸鍍驗證玻璃基材與可撓式金屬基材之CIGS太陽電池元件 2.可採用無鎘化物進行CIGS元件製備 3.基材尺寸8cm x 8cm 4.基材/Bi-layerMo/CIGS/Buffer la... | 潛力預估: 1.預計未來可建立4MW的試量產線 2.100MW產量且產值可達30億

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銅銦鎵硒(CIGS)薄膜式太陽能電池產製技術

執行單位: 中科院飛彈火箭研究所 | 產出年度: 105 | 產出單位: | 計畫名稱: 大面積RTP硒/硫化製程技術暨設備自主開發計畫 | 領域: 綠能科技 | 技術規格: 完成整線現製程技術暨模組產品試製模組批次式元件效率達12~15%,卷式元件切割與邊緣絕緣化之製程技術建立及後段模組封裝所需元件之上電極進行批次式網印。 | 潛力預估: 完成整線現製程技術暨模組產品試製模組批次式元件效率達12~15%

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一種均質緻密CIS薄膜之製作方法

執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 97 | 產出單位: | 計畫名稱: 新世代能源材料關鍵技術開發四年計畫 | 領域: | 技術規格: 1.降低組成不均勻現象,也能使得前驅物的表面較為平整,有助於改善Cu-rich的CIS薄膜表面Cu-Se相的問題、明顯的有較緻密的晶粒結構、橫向組成分佈的均勻性。 2.在升溫過程中也有抑制銅擴散的速度... | 潛力預估: 3C電子產業、居家形太陽能模組、可攜帶型太陽電池等

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電子束熔煉製程技術開發

執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 102 | 產出單位: | 計畫名稱: 綠色產業用金屬材料應用研究發展計畫 | 領域: | 技術規格: 高純度合金濺鍍靶材:純度>=4N、熔點>1700℃。 | 潛力預估: 完成國內太陽能元件、節能發光元件、光電等產業與世界同步,成為當務之急之任務。為配合能源產業相關產品之性能提升,促進國內傳統產業之轉型及升級,本計畫針對太陽能元件、節能發光元件用的高溫/高純度金屬(鉬金...

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高純度鈦金屬濺鍍用材料製程技術

執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 高階稀有綠能材料應用研究發展計畫 | 領域: 綠能科技 | 技術規格: 高純度鈦金屬濺鍍用材料:靶材尺寸≧ψ3 inch、相對純度≧5N。 | 潛力預估: 本技術以半導體元件用濺鍍材料商用規格為技術目標,建立熔煉、鍛造及加工等關鍵製程技術,高純度鈦金屬靶材已陸續送終端使用業界進行產品驗證,未來本團隊需克服其它高熔點/高純度濺鍍材料及量產製程技術,以高階半...

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高純度鈦金屬濺鍍用材料製程技術

執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 105 | 產出單位: | 計畫名稱: 高階稀有綠能材料應用研究發展計畫 | 領域: 綠能科技 | 技術規格: 高純度鈦金屬濺鍍用材料:靶材尺寸≧ψ3 inch、相對純度≧5N。 | 潛力預估: 本技術以半導體元件用濺鍍材料商用規格為技術目標,建立熔煉、鍛造及加工等關鍵製程技術,高純度鈦金屬靶材已陸續送終端使用業界進行產品驗證,未來本團隊需克服其它高熔點/高純度濺鍍材料及量產製程技術,以高階半...

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一種均質緻密CIS薄膜之製作方法

執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 97 | 產出單位: | 計畫名稱: 新世代能源材料關鍵技術開發四年計畫 | 領域: | 技術規格: 1.降低組成不均勻現象,也能使得前驅物的表面較為平整,有助於改善Cu-rich的CIS薄膜表面Cu-Se相的問題、明顯的有較緻密的晶粒結構、橫向組成分佈的均勻性。 2.在升溫過程中也有抑制銅擴散的速度... | 潛力預估: 3C電子產業、居家形太陽能模組、可攜帶型太陽電池等

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電子束熔煉製程技術開發

執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 102 | 產出單位: | 計畫名稱: 綠色產業用金屬材料應用研究發展計畫 | 領域: | 技術規格: 高純度合金濺鍍靶材:純度>=4N、熔點>1700℃。 | 潛力預估: 完成國內太陽能元件、節能發光元件、光電等產業與世界同步,成為當務之急之任務。為配合能源產業相關產品之性能提升,促進國內傳統產業之轉型及升級,本計畫針對太陽能元件、節能發光元件用的高溫/高純度金屬(鉬金...

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高純度鈦金屬濺鍍用材料製程技術

執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 高階稀有綠能材料應用研究發展計畫 | 領域: 綠能科技 | 技術規格: 高純度鈦金屬濺鍍用材料:靶材尺寸≧ψ3 inch、相對純度≧5N。 | 潛力預估: 本技術以半導體元件用濺鍍材料商用規格為技術目標,建立熔煉、鍛造及加工等關鍵製程技術,高純度鈦金屬靶材已陸續送終端使用業界進行產品驗證,未來本團隊需克服其它高熔點/高純度濺鍍材料及量產製程技術,以高階半...

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高純度鈦金屬濺鍍用材料製程技術

執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 105 | 產出單位: | 計畫名稱: 高階稀有綠能材料應用研究發展計畫 | 領域: 綠能科技 | 技術規格: 高純度鈦金屬濺鍍用材料:靶材尺寸≧ψ3 inch、相對純度≧5N。 | 潛力預估: 本技術以半導體元件用濺鍍材料商用規格為技術目標,建立熔煉、鍛造及加工等關鍵製程技術,高純度鈦金屬靶材已陸續送終端使用業界進行產品驗證,未來本團隊需克服其它高熔點/高純度濺鍍材料及量產製程技術,以高階半...

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超臨界點抗黏著乾燥技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 元件尺寸:1. maximum. Length <= 1000 um 2. Length / Width Ratio:50 ‧ 結構層:Poly Silicon,厚度範圍:1 ~ 2 um。 ‧ 犧牲... | 潛力預估: 面型微加工關鍵技術,但成本高,應用潛力中等

低應力薄膜製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: SIN Film Stress <= 100Mpa。 | 潛力預估: 面型微加工重要技術,應用潛力高

矽晶深蝕刻製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: Etching depth: 10~300um . Etching rate: 1~3um/min | 潛力預估: 微加工技術重要技術,但成本高,應用潛力中等

MRAM 元件製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: 本技術包括磁性非揮發記憶體相關技術之研發,可使用於系統記憶體,具高密度(可達6-8F2)、高速度 (both read and write<50ns)、高可重複讀寫次數(>1015) 、省電(oper... | 潛力預估: MRAM可應於可攜式消費性電子或資訊產品,是繼Flash、DRAM、SRAM之後,最令人注目的新記憶體,成長空間極大。

用於40G光通訊用IC及光偵測器的Carbon-doped SiGe/Si HBT製程技

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: 電流增益(Current Gain, hFE):>100 · 閂住基極電阻(Pinched Base Resistance, RBS,P):< 8 Kohm/sq · 截止頻率(Cut-Off Fre... | 潛力預估: 以低成本及Si製程相容性的優勢,將有利於切入高速傳輸的光通訊元件及高功率RF IC的市場。

相變化薄膜製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 薄膜阻值變化率>102 2.相變化時間<100ns | 潛力預估: 相變化記憶體可應於可攜式消費性電子或資訊產品,可切入既有的 DRAM、SRAM與Flash市場。

高介電值閘極介電物技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 高介電常數:k>20,等效厚度小於1.4奈米,漏電流小於氧化矽3個數量級 | 潛力預估: 本技術是與應變電子具潛力的CMOS前瞻技術

相變化記憶體元件與製程技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 提升相變化薄膜與電極之間的附著力達到 40Mpa、設計縮減記憶胞之電極接觸面積小於 8750nm2。 | 潛力預估: OUM是未來可取代Flash之新興記憶體,最令人注目的新記憶體,成長空間極大

應變矽CMOS元件與製程技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 矽鍺虛擬基材製程技術開發 - 膜厚 < 1.0um, 線穿缺陷密度 < 104~5/cm2 載子移動率增效 – 電子 > 60%, 電洞> 60% | 潛力預估: 本技術是High-k具潛力的CMOS前瞻技術

應變矽製程技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 具離子佈植之氮化矽薄膜做為應力源之製程技術- 氮化矽膜厚 < 100nm, 佈植元素為一般半導體常用之元素,可與CMOS製程相容 | 潛力預估: 本技術是與High-k具潛力的CMOS千瞻技術

無鉛製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院材料與化工領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 1.材料, 鍍層與銲點含鉛量小於0.1wt%, 鹵素含量 小於900ppm 2.產品定點含鉛量檢測與分析標準 | 潛力預估: 市場規模包含IC設計、材料、設備、製造、測試等,涵蓋所有消費性家電,市場影響之大無庸置疑。

射頻內藏被動元件之模型程式庫技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 電子關鍵性材料與整合模組發展計畫 | 領域: | 技術規格: 開發射頻內藏被動元件基板結構設計,包括內藏被動元件結構、內藏被動元件及寄生元件模型、元件程式庫、射頻基板材料評估應用與量測驗證,內藏被動元件射頻藍芽模組驗證。建立隨尺寸變化(Scaling Model... | 潛力預估: 印刷電路板廠可建立自己製程專屬的內藏被動元件程式庫,提供客戶設計階段導入應用之服務,提昇產業技術門檻與競爭力。

無鉛製程技術資訊平台建立

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院材料與化工領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 對於無鉛驗證標準工作之努力可從產業服務、無鉛技術輔導及可靠度驗證說明:無鉛定義(未刻意添加下,材料、鍍層與銲點含鉛量小於0.1wt%,鹵素含量小於900ppm)、產品定點含鉛量檢測(取樣標準與定點定義... | 潛力預估: 隨著歐盟(EU)通過2006年7月有害物質禁用(RoHS

加強型行動終端應用程式發展平台

執行單位: 資策會 | 產出年度: 93 | 產出單位: 資策會 | 計畫名稱: 手持式設備嵌入式系統軟體技術發展四年計畫 | 領域: 通訊與光電 | 技術規格: 適用於PDA Phone、Smart Phone等行動式終端產品之應用程式開發,包括下列各項軟體技術: 行動應用程式開發模組、行動應用開發模擬器、應用程式監控/除錯套件、行動終端環境管理工具、行動應用... | 潛力預估: 為國內少數自行開發整合之應用程式開發平台,提供包括Java、WAP WML及Native C應用程式開發,具備完整的原始碼,除配合英華達MAP業界科專第三代手機平台技術研發外,將來更可作為其它個人電...

行動服務交付平台

執行單位: 資策會 | 產出年度: 93 | 產出單位: 資策會 | 計畫名稱: 手持式設備嵌入式系統軟體技術發展四年計畫 | 領域: 通訊與光電 | 技術規格: Compliant to OMA DRM 1.0 standard、Compliant to Nokia/Ericsson DRM spec、Support OMA DRM Delivery meth... | 潛力預估: 建立國內研發行動數位內容保護的核心技術與能量、可以有效取代進口,降低製造廠商生產成本、提供國內廠商既有產品的加值功能,以最經濟的方式升級成為具備DRM功能的終端裝置、可針對特殊應用需求,進行客製化設計

超臨界點抗黏著乾燥技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 元件尺寸:1. maximum. Length <= 1000 um 2. Length / Width Ratio:50 ‧ 結構層:Poly Silicon,厚度範圍:1 ~ 2 um。 ‧ 犧牲... | 潛力預估: 面型微加工關鍵技術,但成本高,應用潛力中等

低應力薄膜製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: SIN Film Stress <= 100Mpa。 | 潛力預估: 面型微加工重要技術,應用潛力高

矽晶深蝕刻製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: Etching depth: 10~300um . Etching rate: 1~3um/min | 潛力預估: 微加工技術重要技術,但成本高,應用潛力中等

MRAM 元件製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: 本技術包括磁性非揮發記憶體相關技術之研發,可使用於系統記憶體,具高密度(可達6-8F2)、高速度 (both read and write<50ns)、高可重複讀寫次數(>1015) 、省電(oper... | 潛力預估: MRAM可應於可攜式消費性電子或資訊產品,是繼Flash、DRAM、SRAM之後,最令人注目的新記憶體,成長空間極大。

用於40G光通訊用IC及光偵測器的Carbon-doped SiGe/Si HBT製程技

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: 電流增益(Current Gain, hFE):>100 · 閂住基極電阻(Pinched Base Resistance, RBS,P):< 8 Kohm/sq · 截止頻率(Cut-Off Fre... | 潛力預估: 以低成本及Si製程相容性的優勢,將有利於切入高速傳輸的光通訊元件及高功率RF IC的市場。

相變化薄膜製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 薄膜阻值變化率>102 2.相變化時間<100ns | 潛力預估: 相變化記憶體可應於可攜式消費性電子或資訊產品,可切入既有的 DRAM、SRAM與Flash市場。

高介電值閘極介電物技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 高介電常數:k>20,等效厚度小於1.4奈米,漏電流小於氧化矽3個數量級 | 潛力預估: 本技術是與應變電子具潛力的CMOS前瞻技術

相變化記憶體元件與製程技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 提升相變化薄膜與電極之間的附著力達到 40Mpa、設計縮減記憶胞之電極接觸面積小於 8750nm2。 | 潛力預估: OUM是未來可取代Flash之新興記憶體,最令人注目的新記憶體,成長空間極大

應變矽CMOS元件與製程技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 矽鍺虛擬基材製程技術開發 - 膜厚 < 1.0um, 線穿缺陷密度 < 104~5/cm2 載子移動率增效 – 電子 > 60%, 電洞> 60% | 潛力預估: 本技術是High-k具潛力的CMOS前瞻技術

應變矽製程技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 具離子佈植之氮化矽薄膜做為應力源之製程技術- 氮化矽膜厚 < 100nm, 佈植元素為一般半導體常用之元素,可與CMOS製程相容 | 潛力預估: 本技術是與High-k具潛力的CMOS千瞻技術

無鉛製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院材料與化工領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 1.材料, 鍍層與銲點含鉛量小於0.1wt%, 鹵素含量 小於900ppm 2.產品定點含鉛量檢測與分析標準 | 潛力預估: 市場規模包含IC設計、材料、設備、製造、測試等,涵蓋所有消費性家電,市場影響之大無庸置疑。

射頻內藏被動元件之模型程式庫技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 電子關鍵性材料與整合模組發展計畫 | 領域: | 技術規格: 開發射頻內藏被動元件基板結構設計,包括內藏被動元件結構、內藏被動元件及寄生元件模型、元件程式庫、射頻基板材料評估應用與量測驗證,內藏被動元件射頻藍芽模組驗證。建立隨尺寸變化(Scaling Model... | 潛力預估: 印刷電路板廠可建立自己製程專屬的內藏被動元件程式庫,提供客戶設計階段導入應用之服務,提昇產業技術門檻與競爭力。

無鉛製程技術資訊平台建立

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院材料與化工領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 對於無鉛驗證標準工作之努力可從產業服務、無鉛技術輔導及可靠度驗證說明:無鉛定義(未刻意添加下,材料、鍍層與銲點含鉛量小於0.1wt%,鹵素含量小於900ppm)、產品定點含鉛量檢測(取樣標準與定點定義... | 潛力預估: 隨著歐盟(EU)通過2006年7月有害物質禁用(RoHS

加強型行動終端應用程式發展平台

執行單位: 資策會 | 產出年度: 93 | 產出單位: 資策會 | 計畫名稱: 手持式設備嵌入式系統軟體技術發展四年計畫 | 領域: 通訊與光電 | 技術規格: 適用於PDA Phone、Smart Phone等行動式終端產品之應用程式開發,包括下列各項軟體技術: 行動應用程式開發模組、行動應用開發模擬器、應用程式監控/除錯套件、行動終端環境管理工具、行動應用... | 潛力預估: 為國內少數自行開發整合之應用程式開發平台,提供包括Java、WAP WML及Native C應用程式開發,具備完整的原始碼,除配合英華達MAP業界科專第三代手機平台技術研發外,將來更可作為其它個人電...

行動服務交付平台

執行單位: 資策會 | 產出年度: 93 | 產出單位: 資策會 | 計畫名稱: 手持式設備嵌入式系統軟體技術發展四年計畫 | 領域: 通訊與光電 | 技術規格: Compliant to OMA DRM 1.0 standard、Compliant to Nokia/Ericsson DRM spec、Support OMA DRM Delivery meth... | 潛力預估: 建立國內研發行動數位內容保護的核心技術與能量、可以有效取代進口,降低製造廠商生產成本、提供國內廠商既有產品的加值功能,以最經濟的方式升級成為具備DRM功能的終端裝置、可針對特殊應用需求,進行客製化設計

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