壓電管
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文壓電管的核准國家是中華民國, 證書號碼是190341, 專利性質是發明, 執行單位是工研院量測中心, 產出年度是93, 計畫名稱是工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫, 專利發明人是張貴凱, 施能謙, 陳燦林.

序號	614
產出年度	93
領域別	(空)
專利名稱-中文	壓電管
執行單位	工研院量測中心
產出單位	(空)
計畫名稱	工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫
專利發明人	張貴凱 \| 施能謙 \| 陳燦林
核准國家	中華民國
獲證日期	(空)
證書號碼	190341
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種壓電管，適用於掃描機構中，可以提供高解析度及多樣化的操作模式，可應用於奈米級表面形貌量測機構，如一掃描探針顯微鏡(Scanning probe microscope)，此壓電管(Piezo-electrical tube)具有多段分割電極，使掃描機構具有不同解析度及不同掃描區域操作模式，可針對樣品表面特徵而採用最適當之模式實施檢測，以獲得最佳表面特徵檢測影像結果。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	金娟如
電話	03-5743816
傳真	03-5720621
電子信箱	judyking@itri.org.tw
參考網址	http://www.itri.org.tw
備註	原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸
特殊情形	(空)

序號

614

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

壓電管

執行單位

工研院量測中心

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫

專利發明人

張貴凱 | 施能謙 | 陳燦林

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

190341

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種壓電管，適用於掃描機構中，可以提供高解析度及多樣化的操作模式，可應用於奈米級表面形貌量測機構，如一掃描探針顯微鏡(Scanning probe microscope)，此壓電管(Piezo-electrical tube)具有多段分割電極，使掃描機構具有不同解析度及不同掃描區域操作模式，可針對樣品表面特徵而採用最適當之模式實施檢測，以獲得最佳表面特徵檢測影像結果。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

金娟如

電話

03-5743816

傳真

03-5720621

電子信箱

judyking@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸

特殊情形

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新北市三重區重新路五段３３３號十一樓	總價元: 21000000 \| 房地(土地+建物)+車位 \| 建物移轉總面積平方公尺: 141.1 \| 土地移轉總面積平方公尺: 17.78 \| 建築完成年月: 1130227 \| 都市土地使用分區: 住 \| 建物型態: 住宅大樓(11層含以上有電梯) \| 主要用途: 住家用 \| 交易年月日: 1111121 @ 不動產實價登錄資訊-買賣案件
代子公司東莞立德精密工業有限公司公告取得理財商品	發言日期: 1140402 \| 發言時間: 190341 \| 公司名稱: 宣德 \| 公司代號: 5457 \| 事實發生日: 1140327 \| 符合條款: 第20款 \| 說明: 1.標的物之名稱及性質（屬特別股者，並應標明特別股約定發行條件，如股息率等）: 中國農業銀行時時付22號開放式人民幣理財產品（AKSSF22A） 2.事實發生日:114/3/27~114/3/27... @ 上櫃公司每日重大訊息
本公司代子公司Delta Electronics (Thailand) Public Company Limited公告取得機器設備	發言日期: 1140425 \| 發言時間: 190341 \| 公司名稱: 台達電 \| 公司代號: 2308 \| 事實發生日: 1140425 \| 符合條款: 第20款 \| 說明: 1.標的物之名稱及性質（如坐落台中市北區ＸＸ段ＸＸ小段土地）: 機器設備 2.事實發生日:114/2/14~114/4/25 3.交易單位數量（如ＸＸ平方公尺，折合ＸＸ坪）、每單位價格及交易總金... @ 上市公司每日重大訊息

新北市三重區重新路五段３３３號十一樓

@ 不動產實價登錄資訊-買賣案件

@ 上櫃公司每日重大訊息

本公司代子公司Delta Electronics (Thailand) Public Company Limited公告取得機器設備

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壓電管掃瞄平面定位誤差修正裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I230780 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 陳譽元 \| 陳燦林 \| 張中柱 \| 張貴凱 \| 梁仁德 @ 技術司專利資料集
創新壓電管驅動器技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 領域: \| 技術規格: 3D nano-imaging. \| 潛力預估: 可搶攻原子立顯微鏡探針市場 @ 技術司可移轉技術資料集
汐平路拓寬工程完工改善交通瓶頸	訊息發送時間: 2018/05/07T17:47:19.0 \| 發布者單位: 工務局 \| 發布者姓名: 夏敏華 \| 發布者電話: \| 公告內容: 【新北市訊】新北市汐止區汐平路道路寬度不足，貨櫃車輛行駛頻繁，交通危險且經常塞車，新北市政府為改善該路段交通瓶頸問題，自105年12月進行汐平路第二階段道路拓寬工程，已於近日順利完工，有效解決大同路及... @ 新北市政府新聞稿_下載附件版

壓電管掃瞄平面定位誤差修正裝置

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創新壓電管驅動器技術

@ 技術司可移轉技術資料集

汐平路拓寬工程完工改善交通瓶頸

訊息發送時間: 2018/05/07T17:47:19.0 | 發布者單位: 工務局 | 發布者姓名: 夏敏華 | 發布者電話: | 公告內容: 【新北市訊】新北市汐止區汐平路道路寬度不足，貨櫃車輛行駛頻繁，交通危險且經常塞車，新北市政府為改善該路段交通瓶頸問題，自105年12月進行汐平路第二階段道路拓寬工程，已於近日順利完工，有效解決大同路及...

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力量感測器	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I230791 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 張貴凱 \| 戴鴻名 \| 施能謙 \| 陳燦林 @ 技術司專利資料集
探針檢測裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 196398 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 施能謙 \| 張貴凱 \| 陳燦林 @ 技術司專利資料集

力量感測器

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探針檢測裝置

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高密度通道光譜影像量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)物方視野: 線型 > 6 mm(2) 物方空間解析度: < 250 mm (3) 光譜解析度: < 3 nm (4) 單次量測光譜範圍(free spectral range): 400 nm \| 潛力預估: 台灣的LED設備產能相當充足，但製程良率偏低，且檢測速度遠不及產出率，需求快速光譜檢測新一代技術，本技術可直接針對此需求提供服務。 @ 技術司可移轉技術資料集
高密度光譜分析技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)掃描範圍:300nm~900nm/1250nm~1650nm \| 潛力預估: 可取代目前國外高價產品，可創造產值5億 @ 技術司可移轉技術資料集
垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 \| 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。 @ 技術司可移轉技術資料集
3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)空間解析度：7.7 μm。(2)深度範圍：< 200μm。 \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
三維形貌量測探頭技術	執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 97 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 \| 領域: \| 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 \| 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。 @ 技術司可移轉技術資料集
電力控制電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 214743 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 陳盛仁 \| 楊景榮 \| 林俊宏 \| 陳燦林 @ 技術司專利資料集
提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184318 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮 \| 黃俊雄 @ 技術司專利資料集

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軟性印刷電路板用壓延銅箔表面處理製程	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: TW 206917 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高性能金屬材料技術四年計畫 \| 專利發明人: 邱秋燕 \| 翁榮洲 \| 劉金耀
廢棄晶片回收分離及純化之裝置及其方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: TW 207333 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高性能金屬材料技術四年計畫 \| 專利發明人: 賴明雄 \| 溫志中 \| 鄭楚丕
場發射顯示器	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: TW I224352 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高性能金屬材料技術四年計畫 \| 專利發明人: 邱正茂 \| 郭鐘亮 \| 張光榮 \| 賴詩文 \| 栗愛綱 \| 賴宏仁 \| 橫山明聰
液晶面板及其製造方	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 182317 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 鄭華琦 \| 溫俊祥 \| 吳耀庭 \| 鄭淑惠 \| 詹明香 \| 安川淳一 \| 桑原一
具有低介電常數之高頻電路基板	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 185492 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 黃仕穎 \| 陳永志 \| 王先毅 \| 鄭龍正 \| 陳俊昇
一種可增加膽固醇液晶反射波寬的方法及其應用	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6669999 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 謝葆如 \| 郭惠隆
有機電致發光元件	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 190466 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 王宜凡 \| 翁文國 \| 呂伯彥
有機電致發光元件	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6649284 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 王宜凡 \| 翁文國 \| 呂伯彥
具聲波導件之吸音板	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 218521 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 李芳慶 \| 陳文華 \| 姜達銘 \| 楊宗龍
自發配向的膽固醇液晶型增亮膜的製法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 196478 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 謝葆如 \| 郭惠隆 \| 吳平耀 \| 朱文彬
自發配向的膽固醇液晶型增亮膜的製法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6721030 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 謝葆如 \| 郭惠隆 \| 吳平耀 \| 朱文彬
低預傾角之配向膜材料(I)	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 199751 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 陳福龍 \| 辛哲宏 \| 李政道 \| 王文獻
主鏈含氟側鏈含咔唑基的離子型電活性接枝共聚物、其摻合物及制動器	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200907 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 陳振鑾 \| 劉文亮 \| 鄭龍正
用做電路基板的複合材料板	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL01116048.96 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 先進有機材料產業技術四年計畫 \| 專利發明人: 黃仕穎 \| 陳永志 \| 王先毅 \| 鄭龍正 \| 陳俊昇
觸變成型原材料的製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 207120 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院材料與化工領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 范元昌 \| 陳俊沐 \| 蘇健忠 \| 楊智超

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