存儲器的負載平衡架構
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專利名稱-中文存儲器的負載平衡架構的核准國家是中國大陸, 執行單位是工研院電光所, 產出年度是100, 專利性質是發明, 計畫名稱是固態儲存關鍵技術開發及系統驗證四年計畫, 專利發明人是林志昇,張嘉伯,林展瑞,, 證書號碼是ZL200510003537.4.

序號8327
產出年度100
領域別電資通光
專利名稱-中文存儲器的負載平衡架構
執行單位工研院電光所
產出單位工研院電光所
計畫名稱固態儲存關鍵技術開發及系統驗證四年計畫
專利發明人林志昇,張嘉伯,林展瑞,
核准國家中國大陸
獲證日期100/08/15
證書號碼ZL200510003537.4
專利期間起100/06/22
專利期間訖114/12/22
專利性質發明
技術摘要-中文本案係為一種記憶體，其包含一感測放大器，具有一胞元輸入端及一參考輸入端;一第一子陣列，係經由一第一開關耦接於該胞元輸入端，並經由一第二開關耦接於該參考輸入端;一第二子陣列，係經由一第三開關耦接於該胞元輸入端，並經由一第四開關耦接於該參考輸入端;以及一參考胞元陣列，係耦接於該第二開關與該第四開關之間，並耦接至該參考輸入端。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員鍾佩翰
電話03-5912777
傳真03-5917690
電子信箱tephen.chung@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
同步更新日期2023-07-05

序號

8327

產出年度

100

領域別

電資通光

專利名稱-中文

存儲器的負載平衡架構

執行單位

工研院電光所

產出單位

工研院電光所

計畫名稱

固態儲存關鍵技術開發及系統驗證四年計畫

專利發明人

林志昇,張嘉伯,林展瑞,

核准國家

中國大陸

獲證日期

100/08/15

證書號碼

ZL200510003537.4

專利期間起

100/06/22

專利期間訖

114/12/22

專利性質

發明

技術摘要-中文

本案係為一種記憶體，其包含一感測放大器，具有一胞元輸入端及一參考輸入端;一第一子陣列，係經由一第一開關耦接於該胞元輸入端，並經由一第二開關耦接於該參考輸入端;一第二子陣列，係經由一第三開關耦接於該胞元輸入端，並經由一第四開關耦接於該參考輸入端;以及一參考胞元陣列，係耦接於該第二開關與該第四開關之間，並耦接至該參考輸入端。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

鍾佩翰

電話

03-5912777

傳真

03-5917690

電子信箱

tephen.chung@itri.org.tw

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同步更新日期

2023-07-05

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記憶體之平衡負載架構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 97 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫 | 專利發明人: 林志昇 張嘉伯 林展瑞 | 證書號碼: I297155

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

記憶體之平衡負載架構

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 97 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫 | 專利發明人: 林志昇 張嘉伯 林展瑞 | 證書號碼: 7,385,866

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

記憶體之平衡負載架構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 97 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫 | 專利發明人: 林志昇 張嘉伯 林展瑞 | 證書號碼: I297155

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

記憶體之平衡負載架構

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 97 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫 | 專利發明人: 林志昇 張嘉伯 林展瑞 | 證書號碼: 7,385,866

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# 03-5912777 於 經濟部產業技術司–專利資料集 - 1

序號7016
產出年度99
領域別電資通光
專利名稱-中文用於轉換具低電流的磁阻式隨機存取存儲器的磁矩的方法
執行單位工研院電光所
產出單位(空)
計畫名稱奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人洪建中 ,高明哲 ,李元仁 ,王連昌 ,
核准國家中國大陸
獲證日期99/06/03
證書號碼ZL200610058803.8
專利期間起99/05/12
專利期間訖115/03/03
專利性質發明
技術摘要-中文.
技術摘要-英文(空)
聯絡人員鍾佩翰
電話03-5912777
傳真03-5917690
電子信箱tephen.chung@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
序號: 7016
產出年度: 99
領域別: 電資通光
專利名稱-中文: 用於轉換具低電流的磁阻式隨機存取存儲器的磁矩的方法
執行單位: 工研院電光所
產出單位: (空)
計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人: 洪建中 ,高明哲 ,李元仁 ,王連昌 ,
核准國家: 中國大陸
獲證日期: 99/06/03
證書號碼: ZL200610058803.8
專利期間起: 99/05/12
專利期間訖: 115/03/03
專利性質: 發明
技術摘要-中文: .
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 鍾佩翰
電話: 03-5912777
傳真: 03-5917690
電子信箱: tephen.chung@itri.org.tw
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備註: (空)
特殊情形: (空)

# 03-5912777 於 經濟部產業技術司–專利資料集 - 2

序號7018
產出年度99
領域別電資通光
專利名稱-中文磁性記憶胞的結構、存取方法以及磁性記憶體電路
執行單位工研院電光所
產出單位(空)
計畫名稱奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人洪建中 ,陳永祥 ,高明哲 ,李元仁 ,王泳弘 ,
核准國家中華民國
獲證日期99/03/03
證書號碼I320929
專利期間起99/02/21
專利期間訖115/04/17
專利性質發明
技術摘要-中文.
技術摘要-英文(空)
聯絡人員鍾佩翰
電話03-5912777
傳真03-5917690
電子信箱tephen.chung@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
序號: 7018
產出年度: 99
領域別: 電資通光
專利名稱-中文: 磁性記憶胞的結構、存取方法以及磁性記憶體電路
執行單位: 工研院電光所
產出單位: (空)
計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人: 洪建中 ,陳永祥 ,高明哲 ,李元仁 ,王泳弘 ,
核准國家: 中華民國
獲證日期: 99/03/03
證書號碼: I320929
專利期間起: 99/02/21
專利期間訖: 115/04/17
專利性質: 發明
技術摘要-中文: .
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 鍾佩翰
電話: 03-5912777
傳真: 03-5917690
電子信箱: tephen.chung@itri.org.tw
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備註: (空)
特殊情形: (空)

# 03-5912777 於 經濟部產業技術司–專利資料集 - 3

序號12043
產出年度102
領域別電資通光
專利名稱-中文機械強度測試設備、半導體裝置的製造方法與測試方法
執行單位工研院電光所
產出單位工研院電光所
計畫名稱3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫
專利發明人謝明哲 ,劉漢誠 ,譚瑞敏
核准國家美國
獲證日期102/04/22
證書號碼8,397,584
專利期間起102/03/19
專利期間訖120/03/06
專利性質發明
技術摘要-中文一種機械強度測試設備、半導體裝置的製造方法與測試方法。製造方法包括下列步驟。提供一待測物。待測物包括一晶圓、一絕緣層與多個導電柱。晶圓包括多個晶片區。晶圓的表面具有多個第一與第二盲孔。第一盲孔位於晶片區外，第二盲孔位於晶片區內。絕緣層覆蓋晶圓的表面及第一與第二盲孔的孔壁。導電柱填充於第一與第二盲孔內，且絕緣層位於導電柱與第一盲孔的孔壁及第二盲孔的孔壁之間。進行一機械強度測試，以測試絕緣層、導電柱與第一盲孔的孔壁之間的結合強度。在合格通過機械強度測試後，將晶片區的導電柱電性連接一元件。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員鍾佩翰
電話03-5912777
傳真03-5917690
電子信箱tephen.chung@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
序號: 12043
產出年度: 102
領域別: 電資通光
專利名稱-中文: 機械強度測試設備、半導體裝置的製造方法與測試方法
執行單位: 工研院電光所
產出單位: 工研院電光所
計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫
專利發明人: 謝明哲 ,劉漢誠 ,譚瑞敏
核准國家: 美國
獲證日期: 102/04/22
證書號碼: 8,397,584
專利期間起: 102/03/19
專利期間訖: 120/03/06
專利性質: 發明
技術摘要-中文: 一種機械強度測試設備、半導體裝置的製造方法與測試方法。製造方法包括下列步驟。提供一待測物。待測物包括一晶圓、一絕緣層與多個導電柱。晶圓包括多個晶片區。晶圓的表面具有多個第一與第二盲孔。第一盲孔位於晶片區外，第二盲孔位於晶片區內。絕緣層覆蓋晶圓的表面及第一與第二盲孔的孔壁。導電柱填充於第一與第二盲孔內，且絕緣層位於導電柱與第一盲孔的孔壁及第二盲孔的孔壁之間。進行一機械強度測試，以測試絕緣層、導電柱與第一盲孔的孔壁之間的結合強度。在合格通過機械強度測試後，將晶片區的導電柱電性連接一元件。
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 鍾佩翰
電話: 03-5912777
傳真: 03-5917690
電子信箱: tephen.chung@itri.org.tw
參考網址: (空)
備註: (空)
特殊情形: (空)

# 03-5912777 於 經濟部產業技術司–專利資料集 - 4

序號7015
產出年度99
領域別電資通光
專利名稱-中文磁阻式記憶陣列
執行單位工研院電光所
產出單位(空)
計畫名稱奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人陳啟明 ,洪建中 ,陳永祥 ,王連昌 ,
核准國家日本
獲證日期99/03/01
證書號碼4448485
專利期間起99/01/29
專利期間訖114/10/30
專利性質發明
技術摘要-中文.
技術摘要-英文(空)
聯絡人員鍾佩翰
電話03-5912777
傳真03-5917690
電子信箱tephen.chung@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
序號: 7015
產出年度: 99
領域別: 電資通光
專利名稱-中文: 磁阻式記憶陣列
執行單位: 工研院電光所
產出單位: (空)
計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人: 陳啟明 ,洪建中 ,陳永祥 ,王連昌 ,
核准國家: 日本
獲證日期: 99/03/01
證書號碼: 4448485
專利期間起: 99/01/29
專利期間訖: 114/10/30
專利性質: 發明
技術摘要-中文: .
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 鍾佩翰
電話: 03-5912777
傳真: 03-5917690
電子信箱: tephen.chung@itri.org.tw
參考網址: (空)
備註: (空)
特殊情形: (空)

# 03-5912777 於 經濟部產業技術司–專利資料集 - 5

序號7017
產出年度99
領域別電資通光
專利名稱-中文磁性存儲單元的結構、存取方法以及磁性存儲器電路
執行單位工研院電光所
產出單位(空)
計畫名稱奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人洪建中 ,陳永祥 ,高明哲 ,李元仁 ,王泳弘 ,
核准國家中國大陸
獲證日期99/03/22
證書號碼ZL200610084560.5
專利期間起99/01/27
專利期間訖115/05/24
專利性質發明
技術摘要-中文.
技術摘要-英文(空)
聯絡人員鍾佩翰
電話03-5912777
傳真03-5917690
電子信箱tephen.chung@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
序號: 7017
產出年度: 99
領域別: 電資通光
專利名稱-中文: 磁性存儲單元的結構、存取方法以及磁性存儲器電路
執行單位: 工研院電光所
產出單位: (空)
計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人: 洪建中 ,陳永祥 ,高明哲 ,李元仁 ,王泳弘 ,
核准國家: 中國大陸
獲證日期: 99/03/22
證書號碼: ZL200610084560.5
專利期間起: 99/01/27
專利期間訖: 115/05/24
專利性質: 發明
技術摘要-中文: .
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 鍾佩翰
電話: 03-5912777
傳真: 03-5917690
電子信箱: tephen.chung@itri.org.tw
參考網址: (空)
備註: (空)
特殊情形: (空)

# 03-5912777 於 經濟部產業技術司–專利資料集 - 6

序號7019
產出年度99
領域別電資通光
專利名稱-中文讀?放大器
執行單位工研院電光所
產出單位(空)
計畫名稱奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人張嘉伯 ,林志昇 ,蘇耿立 ,
核准國家中國大陸
獲證日期99/06/07
證書號碼ZL200610071485.9
專利期間起99/05/12
專利期間訖115/03/23
專利性質發明
技術摘要-中文.
技術摘要-英文(空)
聯絡人員鍾佩翰
電話03-5912777
傳真03-5917690
電子信箱tephen.chung@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
序號: 7019
產出年度: 99
領域別: 電資通光
專利名稱-中文: 讀?放大器
執行單位: 工研院電光所
產出單位: (空)
計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人: 張嘉伯 ,林志昇 ,蘇耿立 ,
核准國家: 中國大陸
獲證日期: 99/06/07
證書號碼: ZL200610071485.9
專利期間起: 99/05/12
專利期間訖: 115/03/23
專利性質: 發明
技術摘要-中文: .
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 鍾佩翰
電話: 03-5912777
傳真: 03-5917690
電子信箱: tephen.chung@itri.org.tw
參考網址: (空)
備註: (空)
特殊情形: (空)

# 03-5912777 於 經濟部產業技術司–專利資料集 - 7

序號7020
產出年度99
領域別電資通光
專利名稱-中文高帶寬磁阻隨機存取記憶體裝置及其操作方法
執行單位工研院電光所
產出單位(空)
計畫名稱奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人洪建中 ,李元仁 ,高明哲 ,
核准國家美國
獲證日期99/03/02
證書號碼7,577,017
專利期間起98/08/18
專利期間訖115/10/16
專利性質發明
技術摘要-中文.
技術摘要-英文(空)
聯絡人員鍾佩翰
電話03-5912777
傳真03-5917690
電子信箱tephen.chung@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
序號: 7020
產出年度: 99
領域別: 電資通光
專利名稱-中文: 高帶寬磁阻隨機存取記憶體裝置及其操作方法
執行單位: 工研院電光所
產出單位: (空)
計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人: 洪建中 ,李元仁 ,高明哲 ,
核准國家: 美國
獲證日期: 99/03/02
證書號碼: 7,577,017
專利期間起: 98/08/18
專利期間訖: 115/10/16
專利性質: 發明
技術摘要-中文: .
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 鍾佩翰
電話: 03-5912777
傳真: 03-5917690
電子信箱: tephen.chung@itri.org.tw
參考網址: (空)
備註: (空)
特殊情形: (空)

# 03-5912777 於 經濟部產業技術司–專利資料集 - 8

序號7022
產出年度99
領域別電資通光
專利名稱-中文磁性記憶體之資料讀取電路
執行單位工研院電光所
產出單位(空)
計畫名稱奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人陳永祥 ,王丁勇 ,
核准國家美國
獲證日期99/07/02
證書號碼7,646,635
專利期間起99/01/12
專利期間訖117/08/03
專利性質發明
技術摘要-中文.
技術摘要-英文(空)
聯絡人員鍾佩翰
電話03-5912777
傳真03-5917690
電子信箱tephen.chung@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
序號: 7022
產出年度: 99
領域別: 電資通光
專利名稱-中文: 磁性記憶體之資料讀取電路
執行單位: 工研院電光所
產出單位: (空)
計畫名稱: 奈米電子關鍵及應用技術四年計畫
專利發明人: 陳永祥 ,王丁勇 ,
核准國家: 美國
獲證日期: 99/07/02
證書號碼: 7,646,635
專利期間起: 99/01/12
專利期間訖: 117/08/03
專利性質: 發明
技術摘要-中文: .
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 鍾佩翰
電話: 03-5912777
傳真: 03-5917690
電子信箱: tephen.chung@itri.org.tw
參考網址: (空)
備註: (空)
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與存儲器的負載平衡架構同分類的經濟部產業技術司–專利資料集

相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮, 高清芬, 陳譽元 | 證書號碼: 206753

新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘, 陳燦林, 陳譽元 | 證書號碼: 206450

反射尺讀頭裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 高清芬, 陳燦林, 陳譽元 | 證書號碼: 201496

物體表面三維形貌量測方法和系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳, 田立芬 | 證書號碼: 200161

利用共軛光路量測二維位移量之方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱, 高清芬, 李世光 | 證書號碼: 6,744,520

紅外光轉換可見光之顯微影像裝置

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉, 林耀明, 葉迎春 | 證書號碼: 6,687,051

可調光徑之光學捕捉裙

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉, 羅偕益 | 證書號碼: 6,667,838

利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育, 施學兢 | 證書號碼: 194233

全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 姚 鵬, 陳志光 | 證書號碼: 200261

控制奈米碳管長度之方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名, 施能謙, 陳燦林 | 證書號碼: 200165

平面定位機構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 張中柱 | 證書號碼: 201505

即時紅外化學影像光譜裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌, 王浩偉 | 證書號碼: 203435

光譜偏移式奈米近接裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉 | 證書號碼: 200276

光學用高度調整裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森 | 證書號碼: 201467

位移微擾裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 陳志光, 石宇森 | 證書號碼: 201468

相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮, 高清芬, 陳譽元 | 證書號碼: 206753

新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘, 陳燦林, 陳譽元 | 證書號碼: 206450

反射尺讀頭裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 高清芬, 陳燦林, 陳譽元 | 證書號碼: 201496

物體表面三維形貌量測方法和系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳, 田立芬 | 證書號碼: 200161

利用共軛光路量測二維位移量之方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱, 高清芬, 李世光 | 證書號碼: 6,744,520

紅外光轉換可見光之顯微影像裝置

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉, 林耀明, 葉迎春 | 證書號碼: 6,687,051

可調光徑之光學捕捉裙

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉, 羅偕益 | 證書號碼: 6,667,838

利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育, 施學兢 | 證書號碼: 194233

全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 姚 鵬, 陳志光 | 證書號碼: 200261

控制奈米碳管長度之方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名, 施能謙, 陳燦林 | 證書號碼: 200165

平面定位機構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 張中柱 | 證書號碼: 201505

即時紅外化學影像光譜裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌, 王浩偉 | 證書號碼: 203435

光譜偏移式奈米近接裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉 | 證書號碼: 200276

光學用高度調整裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森 | 證書號碼: 201467

位移微擾裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 陳志光, 石宇森 | 證書號碼: 201468

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