量測系統與量測方法
- 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文量測系統與量測方法的核准國家是美國, 執行單位是工研院院本部, 產出年度是103, 專利性質是發明, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是徐得銘 ,顧逸霞, 證書號碼是8830458.

序號	13267
產出年度	103
領域別	服務創新
專利名稱-中文	量測系統與量測方法
執行單位	工研院院本部
產出單位	工研院量測中心
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	徐得銘 ,顧逸霞
核准國家	美國
獲證日期	103/09/09
證書號碼	8830458
專利期間起	122/02/28
專利期間訖	一種量測系統，用以量測一待測物之一孔洞，包括：一光源產生單元，用以產生一光源，並且沿著該孔洞之高度軸方向將該光源分別對焦至不同高度之複數平面；一擷取單元，擷取從該等平面所產生散射出的複數影像；以及一處理單元，根據該等影像取得該等平面的孔洞邊界，用以在每個該等平面的孔洞邊界上取樣不同方位角的影像強度，以便產生複數取樣值，並且根據該等取樣值和所對應的高度和方位角，建立該孔洞之側壁影像。
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種量測系統，用以量測一待測物之一孔洞，包括：一光源產生單元，用以產生一光源，並且沿著該孔洞之高度軸方向將該光源分別對焦至不同高度之複數平面；一擷取單元，擷取從該等平面所產生散射出的複數影像；以及一處理單元，根據該等影像取得該等平面的孔洞邊界，用以在每個該等平面的孔洞邊界上取樣不同方位角的影像強度，以便產生複數取樣值，並且根據該等取樣值和所對應的高度和方位角，建立該孔洞之側壁影像。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	李露蘋
電話	03-5918037
傳真	03-5917656
電子信箱	oralp@itri.org.tw
參考網址	(空)
備註	(空)
特殊情形	(空)
同步更新日期	2023-07-05

序號

13267

產出年度

103

領域別

服務創新

專利名稱-中文

量測系統與量測方法

執行單位

工研院院本部

產出單位

工研院量測中心

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

徐得銘 ,顧逸霞

核准國家

美國

獲證日期

103/09/09

證書號碼

8830458

專利期間起

122/02/28

專利期間訖

一種量測系統，用以量測一待測物之一孔洞，包括：一光源產生單元，用以產生一光源，並且沿著該孔洞之高度軸方向將該光源分別對焦至不同高度之複數平面；一擷取單元，擷取從該等平面所產生散射出的複數影像；以及一處理單元，根據該等影像取得該等平面的孔洞邊界，用以在每個該等平面的孔洞邊界上取樣不同方位角的影像強度，以便產生複數取樣值，並且根據該等取樣值和所對應的高度和方位角，建立該孔洞之側壁影像。

專利性質

發明

技術摘要-中文

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李露蘋

電話

03-5918037

傳真

03-5917656

電子信箱

oralp@itri.org.tw

參考網址

(空)

備註

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特殊情形

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同步更新日期

2023-07-05

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# 量測系統與量測方法於經濟部產業技術司–專利資料集

序號	15594
產出年度	104
領域別	服務創新
專利名稱-中文	量測系統與量測方法
執行單位	工研院院本部
產出單位	工研院量測中心
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	徐得銘 ,顧逸霞
核准國家	中華民國
獲證日期	104/02/03
證書號碼	I467125
專利期間起	104/01/01
專利期間訖	121/09/23
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種量測系統，用以量測一待測物之一孔洞，包括：一光源產生單元，用以產生一光源，並且沿著該孔洞之高度軸方向將該光源分別對焦至不同高度之複數平面；一擷取單元，擷取從該等平面所產生散射出的複數影像；以及一處理單元，根據該等影像取得該等平面的孔洞邊界，用以在每個該等平面的孔洞邊界上取樣不同方位角的影像強度，以便產生複數取樣值，並且根據該等取樣值和所對應的高度和方位角，建立該孔洞之側壁影像。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	李露蘋
電話	03-5917812
傳真	03-5917431
電子信箱	oralp@itri.org.tw
參考網址	(空)
備註	(空)
特殊情形	(空)

序號: 15594

產出年度: 104

領域別: 服務創新

專利名稱-中文: 量測系統與量測方法

執行單位: 工研院院本部

產出單位: 工研院量測中心

計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人: 徐得銘 ,顧逸霞

核准國家: 中華民國

獲證日期: 104/02/03

證書號碼: I467125

專利期間起: 104/01/01

專利期間訖: 121/09/23

專利性質: 發明

技術摘要-中文: 一種量測系統，用以量測一待測物之一孔洞，包括：一光源產生單元，用以產生一光源，並且沿著該孔洞之高度軸方向將該光源分別對焦至不同高度之複數平面；一擷取單元，擷取從該等平面所產生散射出的複數影像；以及一處理單元，根據該等影像取得該等平面的孔洞邊界，用以在每個該等平面的孔洞邊界上取樣不同方位角的影像強度，以便產生複數取樣值，並且根據該等取樣值和所對應的高度和方位角，建立該孔洞之側壁影像。

技術摘要-英文: (空)

聯絡人員: 李露蘋

電話: 03-5917812

傳真: 03-5917431

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孔洞底部形貌的量測方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 徐得銘 ,顧逸霞 ,許維德 \| 證書號碼: I424145 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
量測孔洞深度之方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 徐得銘 ,顧逸霞 ,許維德 \| 證書號碼: I420067 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
孔洞底部形貌的量測方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 徐得銘 ,顧逸霞 ,許維德 \| 證書號碼: 8537213 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
疊對量測結構及方法	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 99 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 徐得銘 ,顧逸霞 , \| 證書號碼: ZL200710170331.X @ 經濟部產業技術司–專利資料集
疊對量測結構及方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 99 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 徐得銘 ,顧逸霞 , \| 證書號碼: 7,652,776 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
疊對量測結構及方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 100 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 徐得銘,顧逸霞, \| 證書號碼: I347428 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
散射場顯微量測方法及裝置	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 100 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 周森益,董書屏,許維德,徐得銘,伍家麟,顧逸霞,宋昌海, \| 證書號碼: 7,872,741 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
散射場顯微量測方法及裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 101 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 周森益,董書屏,許維德,徐得銘,伍家麟,顧逸霞,宋昌海, \| 證書號碼: I378221 @ 經濟部產業技術司–專利資料集

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多波長光源之光學掃描裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 劉貞豪 \| 證書號碼: 206645
光傳送模組之封裝	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 蕭正達, 高旻聖, 王炯宏 \| 證書號碼: 192247
光傳送模組之封裝	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 蕭正達, 高旻聖, 王炯宏 \| 證書號碼: 6,661,565
室溫紫外光增益之氮化物材料的氧化方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 何晉國, 黃兆年, 彭隆翰, 徐易千, 陳金源 \| 證書號碼: 204003
以低電壓製作塊狀鐵電性材料區域反轉之方式	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 彭隆瀚, 林宜慶, 房宜澂 \| 證書號碼: 186269
光加取多工器	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 林士強, 周維仁, 江行健, 吳俊雄 \| 證書號碼: 6,661,944
具有三端口的光學循環器	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 胡杰, 黃承彬, 廖浚男 \| 證書號碼: ZL01109959.3
表面層以複合材料CaF2和TiO2所構成且具撥水功能之光學鍍膜元件	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 蔡榮源, 林浪津, 崋沐怡 \| 證書號碼: I223009
分佈回饋式(DFB)半導體雷射及其製作方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 余昱辰, 郭宗南, 潘彥廷 \| 證書號碼: 194417
光盤承載裝置	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 黃偉煜 \| 證書號碼: ZL00129763.5
動態減震系統	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 楊志軒, 謝政揚, 黃振源, 張啟伸 \| 證書號碼: 206772
聲光布拉格衍射式多光束光學讀寫頭	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 朱良謙, 張志吉 \| 證書號碼: ZL00108097.0
可調整的鏡群裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 涂銀發, 姜皇成, 陳志文, 張耿智 \| 證書號碼: 195758
雙軸向調變影像放大倍率的形狀測定裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 林明慧, 劉通發 \| 證書號碼: 201010
環場影像接圖器及其方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 謝君偉, 江政欽, 魏德樂 \| 證書號碼: 6,798,923

量測系統與量測方法 - 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

序號

產出年度

領域別

專利名稱-中文

執行單位

產出單位

計畫名稱

專利發明人

核准國家

獲證日期

證書號碼

專利期間起

專利期間訖

專利性質

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