專利名稱-中文吸收車輛側撞擊能量之安全結構(MIRDC)的核准國家是中華民國, 證書號碼是I473732, 專利期間起是104/02/21, 專利期間訖是120/12/29, 專利性質是發明, 執行單位是金屬中心, 產出年度是104, 計畫名稱是節能電動化車輛關鍵模組技術暨產業化發展計畫, 專利發明人是林祐廷、張明宗.
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| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I491826 | 專利期間起: 104/07/11 | 專利期間訖: 122/12/08 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 車輛開放式底盤平台關鍵技術暨產業化建構計畫 | 專利發明人: 林祐廷 | 吳承柏 | 楊純賓 | 謝寶賢 @ 技術司專利資料集 |
| 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 車輛開放式底盤平台關鍵技術暨產業化建構計畫 | 領域: 製造精進 | 技術規格: 車體結構皆可應用 | 潛力預估: 協助國內廠商提升車輛設計能量,導入更易利用的設計技術,開發具高附加價值之自主車種,提高國際產業競爭力。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 車輛開放式底盤平台關鍵技術暨產業化建構計畫 | 領域: 製造精進 | 技術規格: 鋁擠型管件結構,包含兩個以上的鋁擠型連續斷面結構,且有能夠互相嵌合滑動特徵。 | 潛力預估: 協助國內廠商提升車輛產業能量,導入更進步的設計技術,開發具高附加價值之自主車種,提高國際產業競爭力。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 車輛開放式底盤平台關鍵技術暨產業化建構計畫 | 領域: 製造精進 | 技術規格: 後懸吊採用扭力樑式輕型四輪L6/L7車種 | 潛力預估: 因為是讓行動不便人士能夠方便行動的慢速車,所以更要在低速時有靈活的移動能力,而一般電動代步車轉向半徑達1,500mm ,在一般家庭內難以移動,甚至受限於法規,造成無法進入某些公共空間,而本發明可以最低... @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 車輛開放式底盤平台關鍵技術暨產業化建構計畫 | 領域: 製造精進 | 技術規格: 三通接頭,可依需求拆換成為2通接頭 提升點強度:20%以上 精度控制:±2.0mm/3,000mm內 尺寸調控:依技轉廠商需求,與實際車體設計情形考量 | 潛力預估: Space Frame搭配以此手法設計之接頭,可有效縮短產品開發時程與成本,適合應用在少量、多樣、高品質的Space Frame結構開發 。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I386560 | 專利期間起: 102/02/21 | 專利期間訖: 119/08/16 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 電動車輛系統模組與關鍵技術開發計畫 | 專利發明人: 林祐廷 | 吳信毅 | 蔡孟修 | 黃士宗 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL201110031403.9 | 專利期間起: 120/01/26 | 專利期間訖: 本發明揭露一種電動車底盤及車體,包含:一底板模組、一對側樑模組以及一電池盒結構模組。底板模組具有一板體,板體底面形成有一下開之縱向凹槽,縱向凹槽的兩側板體上設有至少一對橫樑。側樑模組,依序具有一前孔座... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 節能電動化車輛關鍵模組技術暨產業化發展計畫 | 專利發明人: 黃士宗 | 鄭炳國 | 李政信 | 許昌裕 | 邱黃正凱 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I435813 | 專利期間起: 120/06/27 | 專利期間訖: 一種電動車之動力模組固定支架,包括:一對基座、延伸支架以及動力支架。基座係具有固定座及減振墊,固定座設置於車架上,而減振墊設置於固定座上。延伸支架設置於該減振墊上,延伸支架具有一延伸段。動力支架設置於... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 節能電動化車輛關鍵模組技術暨產業化發展計畫 | 專利發明人: 蔡佳濃 | 林祐廷 | 吳承柏 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I491826 | 專利期間起: 104/07/11 | 專利期間訖: 122/12/08 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 車輛開放式底盤平台關鍵技術暨產業化建構計畫 | 專利發明人: 林祐廷 | 吳承柏 | 楊純賓 | 謝寶賢 @ 技術司專利資料集 |
執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 車輛開放式底盤平台關鍵技術暨產業化建構計畫 | 領域: 製造精進 | 技術規格: 車體結構皆可應用 | 潛力預估: 協助國內廠商提升車輛設計能量,導入更易利用的設計技術,開發具高附加價值之自主車種,提高國際產業競爭力。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 車輛開放式底盤平台關鍵技術暨產業化建構計畫 | 領域: 製造精進 | 技術規格: 鋁擠型管件結構,包含兩個以上的鋁擠型連續斷面結構,且有能夠互相嵌合滑動特徵。 | 潛力預估: 協助國內廠商提升車輛產業能量,導入更進步的設計技術,開發具高附加價值之自主車種,提高國際產業競爭力。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 車輛開放式底盤平台關鍵技術暨產業化建構計畫 | 領域: 製造精進 | 技術規格: 後懸吊採用扭力樑式輕型四輪L6/L7車種 | 潛力預估: 因為是讓行動不便人士能夠方便行動的慢速車,所以更要在低速時有靈活的移動能力,而一般電動代步車轉向半徑達1,500mm ,在一般家庭內難以移動,甚至受限於法規,造成無法進入某些公共空間,而本發明可以最低... @ 技術司可移轉技術資料集 |
執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 車輛開放式底盤平台關鍵技術暨產業化建構計畫 | 領域: 製造精進 | 技術規格: 三通接頭,可依需求拆換成為2通接頭 提升點強度:20%以上 精度控制:±2.0mm/3,000mm內 尺寸調控:依技轉廠商需求,與實際車體設計情形考量 | 潛力預估: Space Frame搭配以此手法設計之接頭,可有效縮短產品開發時程與成本,適合應用在少量、多樣、高品質的Space Frame結構開發 。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I386560 | 專利期間起: 102/02/21 | 專利期間訖: 119/08/16 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 電動車輛系統模組與關鍵技術開發計畫 | 專利發明人: 林祐廷 | 吳信毅 | 蔡孟修 | 黃士宗 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL201110031403.9 | 專利期間起: 120/01/26 | 專利期間訖: 本發明揭露一種電動車底盤及車體,包含:一底板模組、一對側樑模組以及一電池盒結構模組。底板模組具有一板體,板體底面形成有一下開之縱向凹槽,縱向凹槽的兩側板體上設有至少一對橫樑。側樑模組,依序具有一前孔座... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 節能電動化車輛關鍵模組技術暨產業化發展計畫 | 專利發明人: 黃士宗 | 鄭炳國 | 李政信 | 許昌裕 | 邱黃正凱 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I435813 | 專利期間起: 120/06/27 | 專利期間訖: 一種電動車之動力模組固定支架,包括:一對基座、延伸支架以及動力支架。基座係具有固定座及減振墊,固定座設置於車架上,而減振墊設置於固定座上。延伸支架設置於該減振墊上,延伸支架具有一延伸段。動力支架設置於... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 節能電動化車輛關鍵模組技術暨產業化發展計畫 | 專利發明人: 蔡佳濃 | 林祐廷 | 吳承柏 @ 技術司專利資料集 |
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| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元 |
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