量化式資料分析方法以及量化式資料分析裝置
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文量化式資料分析方法以及量化式資料分析裝置的核准國家是中華民國, 證書號碼是發明I484357, 專利期間起是2015/5/11, 專利期間訖是48183, 專利性質是發明, 執行單位是資策會, 產出年度是104, 計畫名稱是資訊系統整合環境建構計畫, 專利發明人是游國正、劉建宗、蔡奕安.

序號	17154
產出年度	104
領域別	智慧科技
專利名稱-中文	量化式資料分析方法以及量化式資料分析裝置
執行單位	資策會
產出單位	資策會
計畫名稱	資訊系統整合環境建構計畫
專利發明人	游國正 \| 劉建宗 \| 蔡奕安
核准國家	中華民國
獲證日期	2015/5/11
證書號碼	發明I484357
專利期間起	2015/5/11
專利期間訖	48183
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種量化式資料分析方法，應用於一電腦系統當中，以判斷一待測文件是否具敏感性，量化式資料分析方法係取得電腦系統當中之樣本資料，對樣本資料之內容進行分段，以取得至少一原始資料段落；對原始資料段落進行劃分，以取得原始文句；自原始文句當中擷取出原始文句屬性，再依據原始文句屬性，建立訓練特徵向量。
技術摘要-英文	A quantitative-type data analysis method is applied to a network system for determining whether a test file is sensitive. The method obtains sample information from the network system, partitions content of the sample information to derive at least one original paragraph. The method then partitions the original paragraph to derive original sentence and derives several original sentence characteristics from the original sentence. After that, the method builds the feature vector according to the derived sentence characteristics.
聯絡人員	洪淑秋
電話	(02)6607-2030
傳真	(02)6607-2026
電子信箱	jeny0923@iii.org.tw
參考網址	(空)
備註	(空)
特殊情形	(空)

序號

17154

產出年度

104

領域別

智慧科技

專利名稱-中文

量化式資料分析方法以及量化式資料分析裝置

執行單位

資策會

產出單位

資策會

計畫名稱

資訊系統整合環境建構計畫

專利發明人

游國正 | 劉建宗 | 蔡奕安

核准國家

中華民國

獲證日期

2015/5/11

證書號碼

發明I484357

專利期間起

2015/5/11

專利期間訖

48183

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種量化式資料分析方法，應用於一電腦系統當中，以判斷一待測文件是否具敏感性，量化式資料分析方法係取得電腦系統當中之樣本資料，對樣本資料之內容進行分段，以取得至少一原始資料段落；對原始資料段落進行劃分，以取得原始文句；自原始文句當中擷取出原始文句屬性，再依據原始文句屬性，建立訓練特徵向量。

技術摘要-英文

A quantitative-type data analysis method is applied to a network system for determining whether a test file is sensitive. The method obtains sample information from the network system, partitions content of the sample information to derive at least one original paragraph. The method then partitions the original paragraph to derive original sentence and derives several original sentence characteristics from the original sentence. After that, the method builds the feature vector according to the derived sentence characteristics.

聯絡人員

洪淑秋

電話

(02)6607-2030

傳真

(02)6607-2026

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jeny0923@iii.org.tw

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AMI用戶端設備資安檢測軟體	執行單位: 資策會 \| 產出年度: 103 \| 產出單位: 資策會 \| 計畫名稱: 資策會創新前瞻技術研究計畫 \| 領域: 智慧科技 \| 技術規格: 1. AMI用戶端設備管控介面資安檢測子模組 2. AMI用戶端設備管控介面組態檢測子模組 3. AMI用戶端設備通訊介面資安檢測子模組 \| 潛力預估: 1. 建立國內智慧電網用戶端軟體之資安檢測核心技術 2. 推動技術加值與擴大成果規模 3. 促進我國資安檢測產業技術升級，確保資訊化社會智慧電網環境發展安全 @ 技術司可移轉技術資料集
威脅輿情關聯模組	執行單位: 資策會 \| 產出年度: 103 \| 產出單位: 資策會 \| 計畫名稱: 資策會創新前瞻技術研究計畫 \| 領域: 智慧科技 \| 技術規格: 1. 社群媒體萃取引擎 2. 異質情資關聯機制 3. 威脅情資評估機制 \| 潛力預估: 1. 建立國內智慧電網用戶端軟體之資安檢測核心技術 2. 推動技術加值與擴大成果規模 3. 促進我國資安服務產業技術升級，提升資訊化社會資安服務創新服務模式。 @ 技術司可移轉技術資料集
資料防護與資安監控技術	執行單位: 資策會 \| 產出年度: 103 \| 產出單位: 資策會 \| 計畫名稱: 資通安全與資料防護技術發展計畫 \| 領域: 服務創新 \| 技術規格: 組態安控檢測技術基準管理與脆弱點分析技術合規修正與組態快照技術 \| 潛力預估: 本技術為資安治理之核心技術，檢測企業終端系統之安全組態設定依循度，並配合企業資安法規政策，預先防堵可能之資安威脅，亦可因應政府推動TWGCB基準要求，切入新興商機 @ 技術司可移轉技術資料集
資安治理與風險管控技術	執行單位: 資策會 \| 產出年度: 103 \| 產出單位: 資策會 \| 計畫名稱: 資通安全與資料防護技術發展計畫 \| 領域: 服務創新 \| 技術規格: 1. 機敏資料衝擊評量機制2. 動態網頁機敏資料探勘技術3. 內容感知探測技術 \| 潛力預估: 本技術為機敏資料掃描與防護之關鍵技術，可協助技術移轉業者發展DLP(Data Loss Prevention) Appliance相關產品/服務，爭取個資法帶來之商機。 @ 技術司可移轉技術資料集
雲端威脅分析與防禦技術	執行單位: 資策會 \| 產出年度: 103 \| 產出單位: 資策會 \| 計畫名稱: 雲端運算系統及軟體技術研發計畫 \| 領域: 服務創新 \| 技術規格: 1.虛擬隔層監控分析技術，提供虛擬隔層惡意程式行為監控，支援WinXP及Win7系統 2.虛擬時間加速分析技術，提供時間炸彈型(time-bomb)攻擊檢測，依系統性能可調整為8~16倍虛擬時間加速 ... \| 潛力預估: 為滿足雲端運算的新興資安市場需求，本技術結合虛擬隔層資安沙箱及虛擬時間加速技術，有效防禦新型態資安攻擊威脅，協助國內資安業者提升資安產品附加價值，推昇整體資安市場產值 @ 技術司可移轉技術資料集
行動應用之資安檢測服務技術	執行單位: 資策會 \| 產出年度: 104 \| 產出單位: 資策會 \| 計畫名稱: 資策會創新前瞻技術研究計畫 \| 領域: 智慧科技 \| 技術規格: • 創新以實體ARM設備陣列建立惡意行為分析平台環境，可任意彈性擴增ARM實體機器數目，大幅降低App檢測建置成本與效率。一個實體ARM Banana Pi 成本約1200元，以建立同等平行大量測試規... \| 潛力預估: 本計畫建立自動化惡意App分析檢測平台環境，推出自動化高效能惡意App分析檢測服務介面，使用者可上傳App後查看檢測結果，在20-60秒即可完成一支App判讀，實際測試本會收集3885 benign ... @ 技術司可移轉技術資料集
行動APP威脅特徵資安檢測技術	執行單位: 資策會 \| 產出年度: 104 \| 產出單位: 資策會 \| 計畫名稱: 資訊系統整合環境建構計畫 \| 領域: 智慧科技 \| 技術規格: 提供Android 4.0以上APP資安檢測 - 支援檔案格式/大小：apk zip archive/64MB Max. - 檢測項目：APP可疑權限宣告分析 OWASP行動安全風險檢測防毒特徵... \| 潛力預估: 目前國內欠缺APP資安檢測核心技術及APP安全開發觀念，且僅有少數資安服務商提供人工行動APP資安檢測服務，成本高昂且檢測成效不佳。為提升APP軟體資安品質，本計畫研發行動APP資安檢測技術，協助資安... @ 技術司可移轉技術資料集
伺服端軟體資安檢測技術	執行單位: 資策會 \| 產出年度: 104 \| 產出單位: 資策會 \| 計畫名稱: 資訊系統整合環境建構計畫 \| 領域: 智慧科技 \| 技術規格: - 提供WEB網站應用程式異常行為分析 - 支援ASP、PHP與JSP網站應用程式檢測 - 檢測項目：異常程序(Process)開啟可疑網路連線建立自動啟動(Auto-Start)項註冊。 \| 潛力預估: 目前市面上關於WEB資安測試的產品以原始碼檢測（如Fortify SCA）與弱點測試（如WebInspect與 Acunetix WVS）等以靜態特徵分析技術為主的產品，對於動態測試部分較為缺乏，因此... @ 技術司可移轉技術資料集

行動應用之資安檢測服務技術

執行單位: 資策會 | 產出年度: 104 | 產出單位: 資策會 | 計畫名稱: 資策會創新前瞻技術研究計畫 | 領域: 智慧科技 | 技術規格: • 創新以實體ARM設備陣列建立惡意行為分析平台環境，可任意彈性擴增ARM實體機器數目，大幅降低App檢測建置成本與效率。一個實體ARM Banana Pi 成本約1200元，以建立同等平行大量測試規... | 潛力預估: 本計畫建立自動化惡意App分析檢測平台環境，推出自動化高效能惡意App分析檢測服務介面，使用者可上傳App後查看檢測結果，在20-60秒即可完成一支App判讀，實際測試本會收集3885 benign ...

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行動APP威脅特徵資安檢測技術

執行單位: 資策會 | 產出年度: 104 | 產出單位: 資策會 | 計畫名稱: 資訊系統整合環境建構計畫 | 領域: 智慧科技 | 技術規格: 提供Android 4.0以上APP資安檢測 - 支援檔案格式/大小：apk zip archive/64MB Max. - 檢測項目：APP可疑權限宣告分析 OWASP行動安全風險檢測防毒特徵... | 潛力預估: 目前國內欠缺APP資安檢測核心技術及APP安全開發觀念，且僅有少數資安服務商提供人工行動APP資安檢測服務，成本高昂且檢測成效不佳。為提升APP軟體資安品質，本計畫研發行動APP資安檢測技術，協助資安...

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伺服端軟體資安檢測技術

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形成頂閘極型薄膜電晶體元件的方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 198717 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 陳志強, 莊景桑, 張鈞傑
自組裝奈米導電凸塊及其製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200159 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 汪若蕙, 陳裕華
貼合材料層於透明基板上的方法以及形成單晶矽層於透明基板的方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200277 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 張志祥, 李啟聖, 黃順發, 張榮芳, 許財源, 胡文智, 王亮棠
動態影像灰階檢測方法與裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200272 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 廖明俊
微針頭陣列製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206641 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 \| 專利發明人: 郭仕奇, 陳相甫
液晶顯示器畫素電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 197257 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林展瑞, 王博文, 陳尚立
移動式微流體切換裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 195345 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 微小化生醫診療工程技術四年計畫 \| 專利發明人: 龐紹華, 王美雅, 楊宏仁
奈米碳管電子源場發射電流增益製程	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 223308 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 許志榮, 李鈞道, 李正中, 何家充, 張悠揚
液晶顯示器製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206664 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 廖奇璋, 賴志明, 林英哲, 翁逸君, 李正中, 辛隆賓, 黃良瑩, 詹景翔, 鄭功龍, 劉仕賢
電泳顯示器之製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206722 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 廖奇璋, 陳明道, 劉康弘, 林英哲, 翁逸君, 李正中, 賴志明, 許家榮, 范揚宜
磁性隨機存取記憶體之參考中點電流產生器	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 223259 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 \| 專利發明人: 洪建中, 高明哲, 潘宗銘, 陳永祥
磁性隨機存取記憶體之參考中點電流產生器	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6791887 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 \| 專利發明人: 洪建中, 高明哲, 潘宗銘, 陳永祥
具有支撐柱結構閘極板之場發射顯示器及其製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 220263 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 李鈞道, 蕭名君, 林偉義, 張悠揚, 王右武
陣列式電感	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 240666 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 黃肇達, 李明林
多重厚度絕緣層製作方法及結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 222134 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 陳邦旭, 許博欽, 劉致為

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