二維位移量之量測裝置
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文二維位移量之量測裝置的核准國家是中華民國, 證書號碼是I224351, 專利性質是發明, 執行單位是工研院量測中心, 產出年度是93, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是高清芬, 張中柱, 林慶芳.

序號	610
產出年度	93
領域別	(空)
專利名稱-中文	二維位移量之量測裝置
執行單位	工研院量測中心
產出單位	(空)
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	高清芬 \| 張中柱 \| 林慶芳
核准國家	中華民國
獲證日期	(空)
證書號碼	I224351
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	本發明係有關於一種二維位移量之量測裝置，其係包括雷射光源、平行化透鏡、分光鏡組、複數錯位共軛光學鏡組以及複數干涉光學解相模組，雷射光源係提供一雷射光源入射平行化透鏡，以產生平行化之雷射光源，繼而入射分光鏡組，以分成兩道入射光，俾供入射二維繞射單元，以產生複數道第一次繞射光以及第一二階繞射光，該等錯位共軛光學鏡組用以反射第一次繞射光，俾供該等第一次繞射光返回二維繞射單元，以產生複數第二次繞射光，並使得第二次繞射光與第一二階繞射光錯位，該等干涉光學解相模組則將第二次繞射光產生之弦波信號光解相，俾供利用該等信號光求出二維移動量。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	金娟如
電話	03-5743816
傳真	03-5720621
電子信箱	judyking@itri.org.tw
參考網址	http://www.itri.org.tw
備註	原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸
特殊情形	(空)

序號

610

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

二維位移量之量測裝置

執行單位

工研院量測中心

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

高清芬 | 張中柱 | 林慶芳

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

I224351

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

本發明係有關於一種二維位移量之量測裝置，其係包括雷射光源、平行化透鏡、分光鏡組、複數錯位共軛光學鏡組以及複數干涉光學解相模組，雷射光源係提供一雷射光源入射平行化透鏡，以產生平行化之雷射光源，繼而入射分光鏡組，以分成兩道入射光，俾供入射二維繞射單元，以產生複數道第一次繞射光以及第一二階繞射光，該等錯位共軛光學鏡組用以反射第一次繞射光，俾供該等第一次繞射光返回二維繞射單元，以產生複數第二次繞射光，並使得第二次繞射光與第一二階繞射光錯位，該等干涉光學解相模組則將第二次繞射光產生之弦波信號光解相，俾供利用該等信號光求出二維移動量。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

金娟如

電話

03-5743816

傳真

03-5720621

電子信箱

judyking@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸

特殊情形

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二維位移量之量測裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 96 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 高清芬張中柱林慶芳 @ 技術司專利資料集
二維位移量的量測裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03160230.4 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 95 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 高清芬、張中柱、林慶芳 @ 技術司專利資料集

二維位移量之量測裝置

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二維位移量的量測裝置

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線性編碼器	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I237688 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳、高清芬、陳譽元、張中柱 @ 技術司專利資料集
線性編碼器	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03154536.X \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 95 \| 計畫名稱: 平面顯示器設備技術開發三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳、高清芬、陳譽元、張中柱 @ 技術司專利資料集
二維尺讀頭機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I230779 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林慶芳、高清芬、張中柱 @ 技術司專利資料集
二維尺讀頭機構	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200410002410.6 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 97 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林慶芳高清芬張中柱 @ 技術司專利資料集

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高密度通道光譜影像量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)物方視野: 線型 > 6 mm(2) 物方空間解析度: < 250 mm (3) 光譜解析度: < 3 nm (4) 單次量測光譜範圍(free spectral range): 400 nm \| 潛力預估: 台灣的LED設備產能相當充足，但製程良率偏低，且檢測速度遠不及產出率，需求快速光譜檢測新一代技術，本技術可直接針對此需求提供服務。 @ 技術司可移轉技術資料集
高密度光譜分析技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)掃描範圍:300nm~900nm/1250nm~1650nm \| 潛力預估: 可取代目前國外高價產品，可創造產值5億 @ 技術司可移轉技術資料集
垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 \| 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。 @ 技術司可移轉技術資料集
3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)空間解析度：7.7 μm。(2)深度範圍：< 200μm。 \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
三維形貌量測探頭技術	執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 97 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 \| 領域: \| 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 \| 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。 @ 技術司可移轉技術資料集
電力控制電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 214743 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林 @ 技術司專利資料集
提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184318 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄 @ 技術司專利資料集

高密度通道光譜影像量測技術

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高密度光譜分析技術

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垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術

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3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術

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HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術

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三維形貌量測探頭技術

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電力控制電路

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提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

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用于納米轉印的平行度調整裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03257537.8 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 陳明祈, 馮文宏, 陳釧鋒, 許嘉峻, 林家弘, 鍾永鎮
用於奈米轉印之平行度調整裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 217025 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 陳明祈, 馮文宏, 陳釧鋒, 許嘉峻, 林家弘, 鍾永鎮
用于納米轉印的均勻施壓裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03257536.X \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 鍾永鎮, 林家弘, 許嘉峻, 陳釧鋒, 馮文宏, 陳明祈
用於奈米轉印之均勻施壓裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 217875 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 鍾永鎮, 林家弘, 許嘉峻, 陳釧鋒, 馮文宏, 陳明祈
均光模組	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: M243671 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 林坤龍, 周敏傑
高可視性發光二極體面型光源調制裝置與模組	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 216653 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 姚柏宏, 潘奕凱, 鮑友南, 林建憲
函數曲線型透鏡光柵之光源調制裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 207005 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 林建憲, 姚柏宏, 鮑友南, 潘奕凱
共軛凸輪取放機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 222595 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 劉俊賢, 黃國興, 徐嘉彬, 洪嘉宏, 林宏毅, 李俊明
順應式壓緊裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03280097.5 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 杜陳忠, 蔣邦民, 黃振榮, 梁沐旺, 翁義兆
壓印用模仁之製程與結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I224078 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 蔡宏營, 吳志宏, 程智勇
繞射/折射複合型變焦鏡頭成像系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I224691 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 林宗信, 林信義, 陸懋宏, 王俊勛
晶圓磨床構造	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I224037 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 湯國裕, 黃榮宏, 陳來毅
主軸高速散熱裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 210017 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 精密機械技術研究發展四年計畫 \| 專利發明人: 張燦輝, 許日榮
龍門型並聯式五軸工具機	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,719,506 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 精密機械技術研究發展四年計畫 \| 專利發明人: 張燦輝, 陳冠文, 康兆安
工具機自動換刀庫之移送定位裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 209968 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 精密機械技術研究發展四年計畫 \| 專利發明人: 龔宣任, 張恩生, 許晉謀

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