二維位移量的量測裝置
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文二維位移量的量測裝置的核准國家是中國大陸, 證書號碼是ZL03160230.4, 專利性質是發明, 執行單位是工研院院本部, 產出年度是95, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是高清芬、張中柱、林慶芳.

序號	2324
產出年度	95
領域別	(空)
專利名稱-中文	二維位移量的量測裝置
執行單位	工研院院本部
產出單位	(空)
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	高清芬 \| 張中柱 \| 林慶芳
核准國家	中國大陸
獲證日期	(空)
證書號碼	ZL03160230.4
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	本發明係有關於一種二維位移量之量測裝置，其係包括雷射光源、平行化透鏡、分光鏡組、複數錯位共軛光學鏡組以及複數干涉光學解相模組，雷射光源係提供一雷射光源入射平行化透鏡，以產生平行化之雷射光源，繼而入射分光鏡組，以分成兩道入射光，俾供入射二維繞射單元，以產生複數道第一次繞射光以及第一二階繞射光，該等錯位共軛光學鏡組用以反射第一次繞射光，俾供該等第一次繞射光返回二維繞射單元，以產生複數第二次繞射光，並使得第二次繞射光與第一二階繞射光錯位，該等干涉光學解相模組則將第二次繞射光產生之弦波信號光解相，俾供利用該等信號光求出二維移動量。_x000D_An apparatus for detecting displacement of two-dimensional motion is disclosed, which includes a laser, a directional lens, a light splitter module, a plurality of optical conjugate components and a plurality of light decoding units. The laser provides a laser bean into the directional lens for outputting a directional laser beam. The light splitter module separates the directional laser beam into two incident light so that the incident light arrives a two-dimensional diffraction unit for generating a first diffraction light and a first second-order diffraction light. The optical conjugate components reflect the first diffraction light so that the first diffraction light returns the two-dimensional diffraction unit to generate a second diffraction light that staggers with the first and second-order diffraction light. The light decoding units decode the sinusoidal signal generated by the second diffraction light to obtain a plurality of light signals.
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	劉展洋
電話	03-5916037
傳真	03-5917431
電子信箱	JamesLiu@Itri.org.tw
參考網址	http://www.patentportfolio.itri.org.tw
備註	原領域別為材料化工，95年改為生醫材化
特殊情形	(空)

序號

2324

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

二維位移量的量測裝置

執行單位

工研院院本部

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

高清芬 | 張中柱 | 林慶芳

核准國家

中國大陸

獲證日期

(空)

證書號碼

ZL03160230.4

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

本發明係有關於一種二維位移量之量測裝置，其係包括雷射光源、平行化透鏡、分光鏡組、複數錯位共軛光學鏡組以及複數干涉光學解相模組，雷射光源係提供一雷射光源入射平行化透鏡，以產生平行化之雷射光源，繼而入射分光鏡組，以分成兩道入射光，俾供入射二維繞射單元，以產生複數道第一次繞射光以及第一二階繞射光，該等錯位共軛光學鏡組用以反射第一次繞射光，俾供該等第一次繞射光返回二維繞射單元，以產生複數第二次繞射光，並使得第二次繞射光與第一二階繞射光錯位，該等干涉光學解相模組則將第二次繞射光產生之弦波信號光解相，俾供利用該等信號光求出二維移動量。_x000D_An apparatus for detecting displacement of two-dimensional motion is disclosed, which includes a laser, a directional lens, a light splitter module, a plurality of optical conjugate components and a plurality of light decoding units. The laser provides a laser bean into the directional lens for outputting a directional laser beam. The light splitter module separates the directional laser beam into two incident light so that the incident light arrives a two-dimensional diffraction unit for generating a first diffraction light and a first second-order diffraction light. The optical conjugate components reflect the first diffraction light so that the first diffraction light returns the two-dimensional diffraction unit to generate a second diffraction light that staggers with the first and second-order diffraction light. The light decoding units decode the sinusoidal signal generated by the second diffraction light to obtain a plurality of light signals.

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

劉展洋

電話

03-5916037

傳真

03-5917431

電子信箱

JamesLiu@Itri.org.tw

參考網址

http://www.patentportfolio.itri.org.tw

備註

原領域別為材料化工，95年改為生醫材化

特殊情形

(空)

根據識別碼 ZL03160230.4 找到的相關資料

無其他 ZL03160230.4 資料。

[ 搜尋所有 ZL03160230.4 ... ]

根據名稱二維位移量的量測裝置找到的相關資料

無其他二維位移量的量測裝置資料。

[ 搜尋所有 二維位移量的量測裝置 ... ]

根據姓名高清芬張中柱林慶芳找到的相關資料

(以下顯示 6 筆) (或要:直接搜尋所有 高清芬張中柱林慶芳 ...)

線性編碼器	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I237688 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳、高清芬、陳譽元、張中柱 @ 技術司專利資料集
線性編碼器	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03154536.X \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 95 \| 計畫名稱: 平面顯示器設備技術開發三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳、高清芬、陳譽元、張中柱 @ 技術司專利資料集
二維尺讀頭機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I230779 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林慶芳、高清芬、張中柱 @ 技術司專利資料集
二維尺讀頭機構	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200410002410.6 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 97 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林慶芳高清芬張中柱 @ 技術司專利資料集
二維位移量之量測裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I224351 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 高清芬, 張中柱, 林慶芳 @ 技術司專利資料集
二維位移量之量測裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 96 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 高清芬張中柱林慶芳 @ 技術司專利資料集

根據電話 03-5916037 找到的相關資料

(以下顯示 8 筆) (或要:直接搜尋所有 03-5916037 ...)

一種高速假撚方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 207547 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院化工所 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 高科技纖維與產品技術開發四年計畫 \| 專利發明人: 陳哲陽、簡淑華、黃麗娟、黃泳彬 @ 技術司專利資料集
增進散熱與電磁屏蔽效應之半導體封裝	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 207522 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院材料所 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 電子關鍵性材料與整合模組發展四年計畫 \| 專利發明人: 王興昇、李榮賢、陳棓煌 @ 技術司專利資料集
熱管均熱板	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 226177 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 張長生、楊書榮 @ 技術司專利資料集
一種資料通訊的方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6496481 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 無線通訊技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 吳炯憲、馬金溝 @ 技術司專利資料集
Optical Disk Control Mechanism	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6665253 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 前瞻光資訊系統技術發展計畫 \| 專利發明人: 藍永松、張啟伸 @ 技術司專利資料集
時序還原之方法與系統	核准國家: 德國 \| 證書號碼: 573696 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 林清祥、余基祥、林妍君、薛勝文 @ 技術司專利資料集
時序還原之方法與系統	核准國家: 英國 \| 證書號碼: 573696 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 林清祥、余基祥、林妍君、薛勝文 @ 技術司專利資料集
萃取醣苷類化合物之雙液相系統及其方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 157850 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院生醫中心 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 抗病毒及抗發炎中草藥研發及現代化技術平台之建立四年計畫 \| 專利發明人: 潘一紅、李連滋、邱惜禾、劉惠儒、姚心然 @ 技術司專利資料集

一種高速假撚方法

@ 技術司專利資料集

增進散熱與電磁屏蔽效應之半導體封裝

@ 技術司專利資料集

熱管均熱板

@ 技術司專利資料集

一種資料通訊的方法

@ 技術司專利資料集

Optical Disk Control Mechanism

@ 技術司專利資料集

時序還原之方法與系統

@ 技術司專利資料集

時序還原之方法與系統

@ 技術司專利資料集

萃取醣苷類化合物之雙液相系統及其方法

@ 技術司專利資料集

[ 搜尋所有 03-5916037 ... ]

在『技術司專利資料集』資料集內搜尋:

與二維位移量的量測裝置同分類的技術司專利資料集

用於奈米轉印之平行度調整裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 217025 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 陳明祈, 馮文宏, 陳釧鋒, 許嘉峻, 林家弘, 鍾永鎮
用于納米轉印的均勻施壓裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03257536.X \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 鍾永鎮, 林家弘, 許嘉峻, 陳釧鋒, 馮文宏, 陳明祈
用於奈米轉印之均勻施壓裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 217875 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 鍾永鎮, 林家弘, 許嘉峻, 陳釧鋒, 馮文宏, 陳明祈
均光模組	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: M243671 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 林坤龍, 周敏傑
高可視性發光二極體面型光源調制裝置與模組	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 216653 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 姚柏宏, 潘奕凱, 鮑友南, 林建憲
函數曲線型透鏡光柵之光源調制裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 207005 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 林建憲, 姚柏宏, 鮑友南, 潘奕凱
共軛凸輪取放機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 222595 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 劉俊賢, 黃國興, 徐嘉彬, 洪嘉宏, 林宏毅, 李俊明
順應式壓緊裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03280097.5 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 杜陳忠, 蔣邦民, 黃振榮, 梁沐旺, 翁義兆
壓印用模仁之製程與結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I224078 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 蔡宏營, 吳志宏, 程智勇
繞射/折射複合型變焦鏡頭成像系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I224691 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 林宗信, 林信義, 陸懋宏, 王俊勛
晶圓磨床構造	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I224037 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 湯國裕, 黃榮宏, 陳來毅
主軸高速散熱裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 210017 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 精密機械技術研究發展四年計畫 \| 專利發明人: 張燦輝, 許日榮
龍門型並聯式五軸工具機	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,719,506 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 精密機械技術研究發展四年計畫 \| 專利發明人: 張燦輝, 陳冠文, 康兆安
工具機自動換刀庫之移送定位裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 209968 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 精密機械技術研究發展四年計畫 \| 專利發明人: 龔宣任, 張恩生, 許晉謀
工具機自動換刀庫之移送定位裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,740,839 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 精密機械技術研究發展四年計畫 \| 專利發明人: 龔宣任, 張恩生, 許晉謀

二維位移量的量測裝置 - 技術司專利資料集 @ 經濟部

序號

產出年度

領域別

專利名稱-中文

執行單位

產出單位

計畫名稱

專利發明人

核准國家

獲證日期

證書號碼

專利期間起

專利期間訖

專利性質

技術摘要-中文

技術摘要-英文

聯絡人員

電話

傳真

電子信箱

參考網址

備註

特殊情形

在『技術司專利資料集』資料集內搜尋:

與二維位移量的量測裝置同分類的技術司專利資料集

二維位移量的量測裝置
- 技術司專利資料集 @ 經濟部