光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法
- 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法的核准國家是中華民國, 執行單位是金屬中心, 產出年度是103, 專利性質是發明, 計畫名稱是智慧手持裝置核心技術攻堅計畫, 專利發明人是溫志群.楊駿明.林世偉.林崇田, 證書號碼是I448659.

序號14907
產出年度103
領域別智慧科技
專利名稱-中文光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法
執行單位金屬中心
產出單位金屬中心
計畫名稱智慧手持裝置核心技術攻堅計畫
專利發明人溫志群.楊駿明.林世偉.林崇田
核准國家中華民國
獲證日期103/08/11
證書號碼I448659
專利期間起112/12/26
專利期間訖本創作係一種影像顯像模組與方法,可同時觀測相異空間之影像於一CCD或影像擷取裝置,用以達到單一影像空間顯像之目的,並可藉由光源波長之選擇方式,分別對單側影像或同時對異側物件進行影像處理之目的。 此發明主要由四只直角稜鏡搭配光學鍍膜或濾鏡組成一顯像模組,並以二組與光濾波範圍互相匹配之窄波光源模組,透過光源的切換,可選擇所需成像的空間位置,分別或同時觀測異空間之影像資訊並進行影像分析處理,可有效應用於異空間之對位系統,降低因影像擷取空間的不同所造成之誤差,並提高對位精度之方法。
專利性質發明
技術摘要-中文本創作係一種影像顯像模組與方法,可同時觀測相異空間之影像於一CCD或影像擷取裝置,用以達到單一影像空間顯像之目的,並可藉由光源波長之選擇方式,分別對單側影像或同時對異側物件進行影像處理之目的。 此發明主要由四只直角稜鏡搭配光學鍍膜或濾鏡組成一顯像模組,並以二組與光濾波範圍互相匹配之窄波光源模組,透過光源的切換,可選擇所需成像的空間位置,分別或同時觀測異空間之影像資訊並進行影像分析處理,可有效應用於異空間之對位系統,降低因影像擷取空間的不同所造成之誤差,並提高對位精度之方法。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員楊駿明
電話07-3513121-2626
傳真07-3533982
電子信箱chunming@mail.mirdc.org.tw
參考網址http://ttp://www.mirdc.org.tw/
備註(空)
特殊情形(空)
同步更新日期2023-07-05

序號

14907

產出年度

103

領域別

智慧科技

專利名稱-中文

光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法

執行單位

金屬中心

產出單位

金屬中心

計畫名稱

智慧手持裝置核心技術攻堅計畫

專利發明人

溫志群.楊駿明.林世偉.林崇田

核准國家

中華民國

獲證日期

103/08/11

證書號碼

I448659

專利期間起

112/12/26

專利期間訖

本創作係一種影像顯像模組與方法,可同時觀測相異空間之影像於一CCD或影像擷取裝置,用以達到單一影像空間顯像之目的,並可藉由光源波長之選擇方式,分別對單側影像或同時對異側物件進行影像處理之目的。 此發明主要由四只直角稜鏡搭配光學鍍膜或濾鏡組成一顯像模組,並以二組與光濾波範圍互相匹配之窄波光源模組,透過光源的切換,可選擇所需成像的空間位置,分別或同時觀測異空間之影像資訊並進行影像分析處理,可有效應用於異空間之對位系統,降低因影像擷取空間的不同所造成之誤差,並提高對位精度之方法。

專利性質

發明

技術摘要-中文

本創作係一種影像顯像模組與方法,可同時觀測相異空間之影像於一CCD或影像擷取裝置,用以達到單一影像空間顯像之目的,並可藉由光源波長之選擇方式,分別對單側影像或同時對異側物件進行影像處理之目的。 此發明主要由四只直角稜鏡搭配光學鍍膜或濾鏡組成一顯像模組,並以二組與光濾波範圍互相匹配之窄波光源模組,透過光源的切換,可選擇所需成像的空間位置,分別或同時觀測異空間之影像資訊並進行影像分析處理,可有效應用於異空間之對位系統,降低因影像擷取空間的不同所造成之誤差,並提高對位精度之方法。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

楊駿明

電話

07-3513121-2626

傳真

07-3533982

電子信箱

chunming@mail.mirdc.org.tw

參考網址

http://ttp://www.mirdc.org.tw/

備註

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特殊情形

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同步更新日期

2023-07-05

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# 光學影像擷取模組 對位方法及觀測方法 於 經濟部產業技術司–專利資料集 - 1

序號14903
產出年度103
領域別智慧科技
專利名稱-中文光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法
執行單位金屬中心
產出單位金屬中心
計畫名稱智慧手持裝置核心技術攻堅計畫
專利發明人林世偉.楊駿明.溫志群.林崇田
核准國家中華民國
獲證日期103/10/11
證書號碼I456163
專利期間起122/08/15
專利期間訖本創作係一種影像顯像模組與方法,可同時觀測相異空間之影像於一CCD或影像擷取裝置,用以達到單一影像空間顯像之目的,並可藉由光源波長之選擇方式,分別對單側影像或同時對異側物件進行影像處理之目的。 此發明主要由四只直角稜鏡搭配光學鍍膜或濾鏡組成一顯像模組,並以二組與光濾波範圍互相匹配之窄波光源模組,透過光源的切換,可選擇所需成像的空間位置,分別或同時觀測異空間之影像資訊並進行影像分析處理,可有效應用於異空間之對位系統,降低因影像擷取空間的不同所造成之誤差,並提高對位精度之方法。
專利性質發明
技術摘要-中文本創作係一種影像顯像模組與方法,可同時觀測相異空間之影像於一CCD或影像擷取裝置,用以達到單一影像空間顯像之目的,並可藉由光源波長之選擇方式,分別對單側影像或同時對異側物件進行影像處理之目的。 此發明主要由四只直角稜鏡搭配光學鍍膜或濾鏡組成一顯像模組,並以二組與光濾波範圍互相匹配之窄波光源模組,透過光源的切換,可選擇所需成像的空間位置,分別或同時觀測異空間之影像資訊並進行影像分析處理,可有效應用於異空間之對位系統,降低因影像擷取空間的不同所造成之誤差,並提高對位精度之方法。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員林世偉
電話07-3513121-2628
傳真07-3533982
電子信箱trongerlin@mail.mirdc.org.tw
參考網址http://www.mirdc.org.tw/
備註(空)
特殊情形(空)
序號: 14903
產出年度: 103
領域別: 智慧科技
專利名稱-中文: 光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法
執行單位: 金屬中心
產出單位: 金屬中心
計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫
專利發明人: 林世偉.楊駿明.溫志群.林崇田
核准國家: 中華民國
獲證日期: 103/10/11
證書號碼: I456163
專利期間起: 122/08/15
專利期間訖: 本創作係一種影像顯像模組與方法,可同時觀測相異空間之影像於一CCD或影像擷取裝置,用以達到單一影像空間顯像之目的,並可藉由光源波長之選擇方式,分別對單側影像或同時對異側物件進行影像處理之目的。 此發明主要由四只直角稜鏡搭配光學鍍膜或濾鏡組成一顯像模組,並以二組與光濾波範圍互相匹配之窄波光源模組,透過光源的切換,可選擇所需成像的空間位置,分別或同時觀測異空間之影像資訊並進行影像分析處理,可有效應用於異空間之對位系統,降低因影像擷取空間的不同所造成之誤差,並提高對位精度之方法。
專利性質: 發明
技術摘要-中文: 本創作係一種影像顯像模組與方法,可同時觀測相異空間之影像於一CCD或影像擷取裝置,用以達到單一影像空間顯像之目的,並可藉由光源波長之選擇方式,分別對單側影像或同時對異側物件進行影像處理之目的。 此發明主要由四只直角稜鏡搭配光學鍍膜或濾鏡組成一顯像模組,並以二組與光濾波範圍互相匹配之窄波光源模組,透過光源的切換,可選擇所需成像的空間位置,分別或同時觀測異空間之影像資訊並進行影像分析處理,可有效應用於異空間之對位系統,降低因影像擷取空間的不同所造成之誤差,並提高對位精度之方法。
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 林世偉
電話: 07-3513121-2628
傳真: 07-3533982
電子信箱: trongerlin@mail.mirdc.org.tw
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備註: (空)
特殊情形: (空)

# 光學影像擷取模組 對位方法及觀測方法 於 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集 - 2

序號6660
產出年度103
技術名稱-中文光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法
執行單位工研院院本部
產出單位(空)
計畫名稱智慧手持裝置核心技術攻堅計畫
領域智慧科技
已申請專利之國家台灣、美國
已獲得專利之國家台灣
技術現況敘述-中文本發明為一種單一CCD對異空間平面視覺取像對位技術,包含特殊設計之轉折菱鏡組、影像比對、處理方法及運動平台控制整合,可針對任意設計標記影像進行對位製程,也可由具獨特性之特徵影像進行對位,進而達成產品之組裝、壓合、貼合等需求。
技術現況敘述-英文(空)
技術規格可執行兩對稱相異平面物件之影像擷取,並與運動平台搭配可進行X/Y/theta偏移量的補償對位,對位精度範圍:
技術成熟度雛型
可應用範圍觸控面板貼合機、軟板壓合機、多層元件組裝、3D IC對位壓合設備
潛力預估本技術可廣泛應用於各產業,極俱市場潛力。
聯絡人員林世偉
電話07-3513121#2628
傳真07-3533982
電子信箱trongerlin@mail.mirdc.org.tw
參考網址http://www.mirdc.org.tw/
所須軟硬體設備工業電腦、影像擷取裝置、特殊設計之轉折菱鏡組模組、運動控制裝置、精密定位裝置。
需具備之專業人才機械、電機、資訊、影像、光學。
序號: 6660
產出年度: 103
技術名稱-中文: 光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法
執行單位: 工研院院本部
產出單位: (空)
計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫
領域: 智慧科技
已申請專利之國家: 台灣、美國
已獲得專利之國家: 台灣
技術現況敘述-中文: 本發明為一種單一CCD對異空間平面視覺取像對位技術,包含特殊設計之轉折菱鏡組、影像比對、處理方法及運動平台控制整合,可針對任意設計標記影像進行對位製程,也可由具獨特性之特徵影像進行對位,進而達成產品之組裝、壓合、貼合等需求。
技術現況敘述-英文: (空)
技術規格: 可執行兩對稱相異平面物件之影像擷取,並與運動平台搭配可進行X/Y/theta偏移量的補償對位,對位精度範圍:
技術成熟度: 雛型
可應用範圍: 觸控面板貼合機、軟板壓合機、多層元件組裝、3D IC對位壓合設備
潛力預估: 本技術可廣泛應用於各產業,極俱市場潛力。
聯絡人員: 林世偉
電話: 07-3513121#2628
傳真: 07-3533982
電子信箱: trongerlin@mail.mirdc.org.tw
參考網址: http://www.mirdc.org.tw/
所須軟硬體設備: 工業電腦、影像擷取裝置、特殊設計之轉折菱鏡組模組、運動控制裝置、精密定位裝置。
需具備之專業人才: 機械、電機、資訊、影像、光學。

# 光學影像擷取模組 對位方法及觀測方法 於 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集 - 3

序號7077
產出年度103
技術名稱-中文光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法
執行單位金屬中心
產出單位(空)
計畫名稱智慧手持裝置核心技術攻堅計畫
領域智慧科技
已申請專利之國家台灣,美國
已獲得專利之國家台灣
技術現況敘述-中文本發明為一種單一CCD對異空間平面視覺取像對位技術,包含特殊設計之轉折菱鏡組、影像比對、處理方法及運動平台控制整合,可針對任意設計標記影像進行對位製程,也可由具獨特性之特徵影像進行對位,進而達成產品之組裝、壓合、貼合等需求。
技術現況敘述-英文(空)
技術規格可執行兩對稱相異平面物件之影像擷取,並與運動平台搭配可進行X/Y/theta偏移量的補償對位,對位精度範圍:
技術成熟度雛型
可應用範圍觸控面板貼合機、軟板壓合機、多層元件組裝、3D IC對位壓合設備
潛力預估本技術可廣泛應用於各產業,極俱市場潛力。
聯絡人員林世偉
電話07-3513121#2628
傳真07-3533982
電子信箱trongerlin@mail.mirdc.org.tw
參考網址http://www.mirdc.org.tw/
所須軟硬體設備工業電腦、影像擷取裝置、特殊設計之轉折菱鏡組模組、運動控制裝置、精密定位裝置。
需具備之專業人才機械、電機、資訊、影像、光學。
序號: 7077
產出年度: 103
技術名稱-中文: 光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法
執行單位: 金屬中心
產出單位: (空)
計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫
領域: 智慧科技
已申請專利之國家: 台灣,美國
已獲得專利之國家: 台灣
技術現況敘述-中文: 本發明為一種單一CCD對異空間平面視覺取像對位技術,包含特殊設計之轉折菱鏡組、影像比對、處理方法及運動平台控制整合,可針對任意設計標記影像進行對位製程,也可由具獨特性之特徵影像進行對位,進而達成產品之組裝、壓合、貼合等需求。
技術現況敘述-英文: (空)
技術規格: 可執行兩對稱相異平面物件之影像擷取,並與運動平台搭配可進行X/Y/theta偏移量的補償對位,對位精度範圍:
技術成熟度: 雛型
可應用範圍: 觸控面板貼合機、軟板壓合機、多層元件組裝、3D IC對位壓合設備
潛力預估: 本技術可廣泛應用於各產業,極俱市場潛力。
聯絡人員: 林世偉
電話: 07-3513121#2628
傳真: 07-3533982
電子信箱: trongerlin@mail.mirdc.org.tw
參考網址: http://www.mirdc.org.tw/
所須軟硬體設備: 工業電腦、影像擷取裝置、特殊設計之轉折菱鏡組模組、運動控制裝置、精密定位裝置。
需具備之專業人才: 機械、電機、資訊、影像、光學。
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根據姓名 溫志群.楊駿明.林世偉.林崇田 找到的相關資料

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異空間異尺寸基材對位方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 104 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 金屬中心產業技術環境建構計畫 | 專利發明人: 林崇田、溫志群、楊駿明、林世偉 | 證書號碼: I489224

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

異空間異尺寸基材對位方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 105 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 金屬中心產業技術環境建構計畫 | 專利發明人: 林崇田、楊駿明、溫志群、林世偉 | 證書號碼: 9362153

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

異空間異尺寸基材對位方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 104 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 金屬中心產業技術環境建構計畫 | 專利發明人: 林崇田、溫志群、楊駿明、林世偉 | 證書號碼: I489224

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

異空間異尺寸基材對位方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 105 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 金屬中心產業技術環境建構計畫 | 專利發明人: 林崇田、楊駿明、溫志群、林世偉 | 證書號碼: 9362153

@ 經濟部產業技術司–專利資料集
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根據電話 07-3513121-2626 找到的相關資料

# 07-3513121-2626 於 經濟部產業技術司–專利資料集

序號18767
產出年度105
領域別製造精進
專利名稱-中文無標記異空間基板組裝對位方法及系統
執行單位金屬中心
產出單位金屬中心
計畫名稱產業聚落加值轉型整合推動計畫
專利發明人溫志群、楊駿明
核准國家中華民國
獲證日期105/06/08
證書號碼ZL201110404751.6
專利期間起105/06/08
專利期間訖120/12/07
專利性質發明
技術摘要-中文無標記異空間基板組裝對位方法及系統
技術摘要-英文(空)
聯絡人員楊駿明
電話07-3513121 # 2626
傳真07-3516597
電子信箱chunming@mail.mirdc.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
序號: 18767
產出年度: 105
領域別: 製造精進
專利名稱-中文: 無標記異空間基板組裝對位方法及系統
執行單位: 金屬中心
產出單位: 金屬中心
計畫名稱: 產業聚落加值轉型整合推動計畫
專利發明人: 溫志群、楊駿明
核准國家: 中華民國
獲證日期: 105/06/08
證書號碼: ZL201110404751.6
專利期間起: 105/06/08
專利期間訖: 120/12/07
專利性質: 發明
技術摘要-中文: 無標記異空間基板組裝對位方法及系統
技術摘要-英文: (空)
聯絡人員: 楊駿明
電話: 07-3513121 # 2626
傳真: 07-3516597
電子信箱: chunming@mail.mirdc.org.tw
參考網址: (空)
備註: (空)
特殊情形: (空)
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與光學影像擷取模組、對位方法及觀測方法同分類的經濟部產業技術司–專利資料集

場發射顯示器之支撐柱挾持結構與方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 林偉義, 蕭名君, 陳盈憲, 曾企民, 蕭雲嬌 | 證書號碼: 202592

利用TIO2層製作擴散式反射板

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖奇璋, 陳明道, 黃良瑩, 翁逸君, 吳耀庭, 蔡明郎, 溫俊祥, 林顯光 | 證書號碼: 206687

具無機及有機功能性構裝基板

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 吳仕先, 李明林, 賴信助 | 證書號碼: 196534

奈米碳管閘極之電晶體結構與製程

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 魏拯華, 陳信輝, 賴明駿, 王宏祥, 高明哲 | 證書號碼: 222742

元件轉貼之方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳昱丞, 王文通, 張榮芳, 湯景萱 | 證書號碼: 221010

多層互補式導線結構及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳昱丞, 陳麒麟 | 證書號碼: 220775

以矽為基材之微機電射頻開關製作方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 邱景宏, 顏凱翔, 陳振頤 | 證書號碼: 220142

覆晶構裝接合結構及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃元璋 | 證書號碼: 222725

於基板上形成空間支撐物的方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃良瑩, 詹景翔, 李正中, 何家充, 蕭名君 | 證書號碼: 223307

具內藏電容之基板結構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 鍾佩翰, 李明林, 賴信助, 吳仕先, 張慧如, 鄭玉美 | 證書號碼: 205395

塑膠基板彩色濾光片製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃良瑩, 詹景翔, 何家充, 廖奇璋, 辛隆賓 | 證書號碼: 206792

熱傳增益之三維晶片堆疊構裝架構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 電子關鍵性材料與整合模組發展四年計畫 | 專利發明人: 呂芳俊, 游善溥, 陳守龍, 林志榮, 李榮賢, 范榮昌 | 證書號碼: 220305

液晶顯示器製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖奇璋, 林英哲, 翁逸君, 許家榮, 辛隆賓, 劉康弘, 詹景翔, 沙益安, 黃鑫茂 | 證書號碼: 223113

電泳顯示器之製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖奇璋, 劉康弘, 辛隆賓, 翁逸君, 沙益安, 詹景翔, 許家榮, 吳仲文, 林耀生 | 證書號碼: 203568

薄膜電晶體陣列製作方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李啟聖, 陳政忠, 陳麒麟, 許財源 | 證書號碼: 220534

場發射顯示器之支撐柱挾持結構與方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 林偉義, 蕭名君, 陳盈憲, 曾企民, 蕭雲嬌 | 證書號碼: 202592

利用TIO2層製作擴散式反射板

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖奇璋, 陳明道, 黃良瑩, 翁逸君, 吳耀庭, 蔡明郎, 溫俊祥, 林顯光 | 證書號碼: 206687

具無機及有機功能性構裝基板

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 吳仕先, 李明林, 賴信助 | 證書號碼: 196534

奈米碳管閘極之電晶體結構與製程

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 魏拯華, 陳信輝, 賴明駿, 王宏祥, 高明哲 | 證書號碼: 222742

元件轉貼之方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳昱丞, 王文通, 張榮芳, 湯景萱 | 證書號碼: 221010

多層互補式導線結構及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳昱丞, 陳麒麟 | 證書號碼: 220775

以矽為基材之微機電射頻開關製作方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 邱景宏, 顏凱翔, 陳振頤 | 證書號碼: 220142

覆晶構裝接合結構及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃元璋 | 證書號碼: 222725

於基板上形成空間支撐物的方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃良瑩, 詹景翔, 李正中, 何家充, 蕭名君 | 證書號碼: 223307

具內藏電容之基板結構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 鍾佩翰, 李明林, 賴信助, 吳仕先, 張慧如, 鄭玉美 | 證書號碼: 205395

塑膠基板彩色濾光片製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃良瑩, 詹景翔, 何家充, 廖奇璋, 辛隆賓 | 證書號碼: 206792

熱傳增益之三維晶片堆疊構裝架構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 電子關鍵性材料與整合模組發展四年計畫 | 專利發明人: 呂芳俊, 游善溥, 陳守龍, 林志榮, 李榮賢, 范榮昌 | 證書號碼: 220305

液晶顯示器製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖奇璋, 林英哲, 翁逸君, 許家榮, 辛隆賓, 劉康弘, 詹景翔, 沙益安, 黃鑫茂 | 證書號碼: 223113

電泳顯示器之製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖奇璋, 劉康弘, 辛隆賓, 翁逸君, 沙益安, 詹景翔, 許家榮, 吳仲文, 林耀生 | 證書號碼: 203568

薄膜電晶體陣列製作方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李啟聖, 陳政忠, 陳麒麟, 許財源 | 證書號碼: 220534

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