凸塊測試裝置及其製造方法
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文凸塊測試裝置及其製造方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是185644, 專利性質是發明, 執行單位是工研院院本部, 產出年度是93, 計畫名稱是工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫, 專利發明人是李政鴻 ,李新立 ,.

序號	17214
產出年度	93
領域別	(空)
專利名稱-中文	凸塊測試裝置及其製造方法
執行單位	工研院院本部
產出單位	(空)
計畫名稱	工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫
專利發明人	李政鴻 \| 李新立
核准國家	中華民國
獲證日期	(空)
證書號碼	185644
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	本發明係提供一種凸塊測試裝置，利用雙金屬層製造微翹曲的探針懸臂結構；並且運用靜電力驅動微翹曲的探針懸臂，在進行量測時，先透過靜電力使微翹曲的探針懸臂平躺平行於基板表面，然後等待測凸塊接近於探針懸臂時，再釋放靜電力恢復微翹曲的探針懸臂結構；使每根探針都能確實貼附於欲測量之銲墊與凸塊，如此，不僅不會對探針對銲墊與凸塊造成破壞，還可以容許凸塊間的高度差異；達到能夠精確與穩定量測的目的。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	李露蘋
電話	03-5917812
傳真	(空)
電子信箱	noralp@itri.org.tw
參考網址	(空)
備註	(空)
特殊情形	(空)

序號

17214

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

凸塊測試裝置及其製造方法

執行單位

工研院院本部

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫

專利發明人

李政鴻 | 李新立

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

185644

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

本發明係提供一種凸塊測試裝置，利用雙金屬層製造微翹曲的探針懸臂結構；並且運用靜電力驅動微翹曲的探針懸臂，在進行量測時，先透過靜電力使微翹曲的探針懸臂平躺平行於基板表面，然後等待測凸塊接近於探針懸臂時，再釋放靜電力恢復微翹曲的探針懸臂結構；使每根探針都能確實貼附於欲測量之銲墊與凸塊，如此，不僅不會對探針對銲墊與凸塊造成破壞，還可以容許凸塊間的高度差異；達到能夠精確與穩定量測的目的。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李露蘋

電話

03-5917812

傳真

(空)

電子信箱

noralp@itri.org.tw

參考網址

(空)

備註

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特殊情形

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奕鋐開發有限公司-曹禎文埤頂段1443地號等3筆拆除工程

所在工業區名稱: 非屬工業區類 | (實際廠場)地址: 高雄市鳳山區勝利南路八、一○、一二號 | 營利事業統一編號: 83247325 | 管制編號: E1515645

@ 環境保護許可管理系統(暨解除列管)對象基本資料

奕鋐開發有限公司-曹禎文埤頂段1443地號等3筆拆除工程

所在工業區名稱: 非屬工業區類 | (實際廠場)地址: 高雄市鳳山區勝利南路八、一○、一二號 | 營利事業統一編號: 83247325 | 管制編號: E1515645

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懸臂式測試卡及其製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184677 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 李政鴻, 李新立, 陳宜孝 @ 技術司專利資料集
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平面揚聲器單體與揚聲器裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200910202828.4 \| 專利期間起: 102/04/03 \| 專利期間訖: 118/05/25 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 劉昌和 ,陳明道 @ 技術司專利資料集
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照明裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I402456 \| 專利期間起: 102/07/21 \| 專利期間訖: 119/03/16 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 黃承揚 ,許詔開 @ 技術司專利資料集
Amphiphilic block copolymers and nanoparticles comprising the same	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8,940,333 \| 專利期間起: 104/01/27 \| 專利期間訖: 116/05/11 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院生醫所 \| 產出年度: 104 \| 計畫名稱: 智慧標靶藥物傳輸技術及應用開發計畫 \| 專利發明人: 謝明發, 張學曾, 陳進富, 張原嘉, 甘霈, 林才祐 @ 技術司專利資料集

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晶片取放翻轉機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 215880 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 劉俊賢, 黃國興, 林宏毅, 曾柏蒼
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臥式線型馬達工具機封閉型框架結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 209952 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 張恩生, 林清源, 許晉謀, 龔宣任
光準直器中透鏡之夾持機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 214550 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 邱顯森, 黃相宇, 劉松河
光準直器自動組裝系統改良結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 210229 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 黃相宇, 劉松河, 邱顯森
光纖準直器自動化組裝系統改良結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 219577 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 劉松河, 黃相宇, 邱顯森
用于納米轉印的平行度調整裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03257537.8 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 陳明祈, 馮文宏, 陳釧鋒, 許嘉峻, 林家弘, 鍾永鎮
用於奈米轉印之平行度調整裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 217025 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 陳明祈, 馮文宏, 陳釧鋒, 許嘉峻, 林家弘, 鍾永鎮
用于納米轉印的均勻施壓裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL03257536.X \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 鍾永鎮, 林家弘, 許嘉峻, 陳釧鋒, 馮文宏, 陳明祈
用於奈米轉印之均勻施壓裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 217875 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 鍾永鎮, 林家弘, 許嘉峻, 陳釧鋒, 馮文宏, 陳明祈
均光模組	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: M243671 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 林坤龍, 周敏傑
高可視性發光二極體面型光源調制裝置與模組	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 216653 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 姚柏宏, 潘奕凱, 鮑友南, 林建憲
函數曲線型透鏡光柵之光源調制裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 207005 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 林建憲, 姚柏宏, 鮑友南, 潘奕凱
共軛凸輪取放機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 222595 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 劉俊賢, 黃國興, 徐嘉彬, 洪嘉宏, 林宏毅, 李俊明

凸塊測試裝置及其製造方法 - 技術司專利資料集 @ 經濟部

序號

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領域別

專利名稱-中文

執行單位

產出單位

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