專利名稱-中文液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構 的核准國家是中華民國 , 證書號碼是190439 , 專利性質是發明 , 執行單位是工研院電子所 , 產出年度是93 , 計畫名稱是下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 , 專利發明人是巫吉原 .
序號 756 產出年度 93 領域別 (空) 專利名稱-中文 液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構 執行單位 工研院電子所 產出單位 (空) 計畫名稱 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 專利發明人 巫吉原 核准國家 中華民國 獲證日期 (空) 證書號碼 190439 專利期間起 (空) 專利期間訖 (空) 專利性質 發明 技術摘要-中文 本發明提供之一種液晶顯示面板點燈測試(power up test)的方法,係利用一點燈測試面板(Test Panel)來對一液晶顯示面板進行點燈測試,可大幅降低點燈測試的困難與所需成本;該點燈測試面板,係在一基板上形成有複數個測試電極,該複數個測試電極係一對一相對應於該液晶顯示面板得複數個輸入電極。該點燈測試面板可藉由一軟性軟性膠膜,與一主機系統電路達成訊號連結,該主機系統可以產生輸入液晶顯示面板的訊號。再進行點燈測試時,僅需將該點燈測試面板與該輸入電極相對疊合並施以適當之壓合力量,即可進行液晶面板電訊導通測試。特別有利於應用再輸入電極間距(Pitch)很小的高解析度液晶顯示面板的點燈測試。 技術摘要-英文 (空) 聯絡人員 謝旺廷 電話 03-5913551 傳真 (空) 電子信箱 wthsieh@itri.org.tw 參考網址 http://www.itri.org.tw 備註 原領域別為通訊光電,95年改為電資通光 特殊情形 (空)
序號 756 產出年度 93 領域別 (空) 專利名稱-中文 液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構 執行單位 工研院電子所 產出單位 (空) 計畫名稱 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 專利發明人 巫吉原 核准國家 中華民國 獲證日期 (空) 證書號碼 190439 專利期間起 (空) 專利期間訖 (空) 專利性質 發明 技術摘要-中文 本發明提供之一種液晶顯示面板點燈測試(power up test)的方法,係利用一點燈測試面板(Test Panel)來對一液晶顯示面板進行點燈測試,可大幅降低點燈測試的困難與所需成本;該點燈測試面板,係在一基板上形成有複數個測試電極,該複數個測試電極係一對一相對應於該液晶顯示面板得複數個輸入電極。該點燈測試面板可藉由一軟性軟性膠膜,與一主機系統電路達成訊號連結,該主機系統可以產生輸入液晶顯示面板的訊號。再進行點燈測試時,僅需將該點燈測試面板與該輸入電極相對疊合並施以適當之壓合力量,即可進行液晶面板電訊導通測試。特別有利於應用再輸入電極間距(Pitch)很小的高解析度液晶顯示面板的點燈測試。 技術摘要-英文 (空) 聯絡人員 謝旺廷 電話 03-5913551 傳真 (空) 電子信箱 wthsieh@itri.org.tw 參考網址 http://www.itri.org.tw 備註 原領域別為通訊光電,95年改為電資通光 特殊情形 (空)
無其他 190439 資料。
[ 搜尋所有 190439 ... ]
根據名稱 液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構 找到的相關資料 核准國家: 日本 | 證書號碼: 3553864 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 巫吉原
@ 技術司專利資料集
核准國家: 日本 | 證書號碼: 3553864 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 巫吉原
@ 技術司專利資料集
[ 搜尋所有 液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構 ... ]
無其他 巫吉原 資料。
[ 搜尋所有 巫吉原 ... ]
根據電話 03-5913551 找到的相關資料 (以下顯示 8 筆) (或要:直接搜尋所有 03-5913551 ...)執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: 1.Brightness>4000 nits_x000D_;2.efficiency>5 lm/W | 潛力預估: 可搶攻LCD-TV之背光源市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: Panel Size : 3.8”;Pixel number:320 x 3 x240;Resolution:QVGA;Pixel pitch:80 um x 240 um;Aperture rati... | 潛力預估: 可搶攻車用型顯示器市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院電子資訊與通訊光電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: | 潛力預估: 可搶攻Note Book、手機、PDA市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: Size:20”;均勻度 | 潛力預估: 可搶攻戶外資訊顯示,車用顯示器市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: 20吋, 亮度>6000nits;81點亮度均勻度(/平均值)>70%_x000D_;表面溫度 | 潛力預估: 可搶攻LCD-TV等背光源市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: Ag 電極: line/width< 30μm/30μm, sintering T100V/μm, pattern/etching hole | 潛力預估: 可搶攻自發光之顯示器(CNT-FED)或LCD-TV之背光源(CNT-BLU)市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: 10” QVGA-320x3x240_x000D_;pixel size=500μm X 500μm_x000D_;250 nits;spacer=100 μm _x000D_ | 潛力預估: 可搶攻車用顯示器、戶外資訊顯示器、背光板等.市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: 10” VGA_x000D_;Pixel number:640 x 3 x480_x000D_;Pixel pitch:90 um x 120 um_x000D_;Aperture ratio: 30... | 潛力預估: 可搶攻車用型顯示器市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集
執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: 1.Brightness>4000 nits_x000D_;2.efficiency>5 lm/W | 潛力預估: 可搶攻LCD-TV之背光源市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: Panel Size : 3.8”;Pixel number:320 x 3 x240;Resolution:QVGA;Pixel pitch:80 um x 240 um;Aperture rati... | 潛力預估: 可搶攻車用型顯示器市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院電子資訊與通訊光電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: | 潛力預估: 可搶攻Note Book、手機、PDA市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: Size:20”;均勻度 | 潛力預估: 可搶攻戶外資訊顯示,車用顯示器市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: 20吋, 亮度>6000nits;81點亮度均勻度(/平均值)>70%_x000D_;表面溫度 | 潛力預估: 可搶攻LCD-TV等背光源市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: Ag 電極: line/width< 30μm/30μm, sintering T100V/μm, pattern/etching hole | 潛力預估: 可搶攻自發光之顯示器(CNT-FED)或LCD-TV之背光源(CNT-BLU)市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: 10” QVGA-320x3x240_x000D_;pixel size=500μm X 500μm_x000D_;250 nits;spacer=100 μm _x000D_ | 潛力預估: 可搶攻車用顯示器、戶外資訊顯示器、背光板等.市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: 10” VGA_x000D_;Pixel number:640 x 3 x480_x000D_;Pixel pitch:90 um x 120 um_x000D_;Aperture ratio: 30... | 潛力預估: 可搶攻車用型顯示器市場,極具市場潛力
@ 技術司可移轉技術資料集
[ 搜尋所有 03-5913551 ... ]
在『技術司專利資料集』資料集內搜尋:
與液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構同分類的技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201505 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 張中柱
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 203435 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌 | 王浩偉
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200276 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 王浩偉
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201467 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201468 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 陳志光 | 石宇森
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201837 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 黃卯生 | 薛文崇 | 曾文仁 | 馮勁敏 | 梁文烈
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I224351 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 高清芬 | 張中柱 | 林慶芳
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I221897 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育 | 施學兢
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 207362 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 鄭凱宇 | 戴鴻名
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 207365 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 潘善鵬 | 姚斌誠 | 張威政 | 陳聖
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 190341 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 張貴凱 | 施能謙 | 陳燦林
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200275 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳譽元 | 楊景榮 | 黃瓊輝
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 196398 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 施能謙 | 張貴凱 | 陳燦林
核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL98116195.2 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 智慧型資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 鍾錦鈞 | 黃紹華 | 鍾崇斌
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 69681 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 聯合新式樣 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 智慧型資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 鄭博文 | 馮治華 | 廖文全 | 林正偉 | 王泰元 | 李炫弘 | 劉緯興
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201505 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 張中柱
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 203435 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌 | 王浩偉
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200276 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 王浩偉
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201467 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201468 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 陳志光 | 石宇森
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201837 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 黃卯生 | 薛文崇 | 曾文仁 | 馮勁敏 | 梁文烈
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I224351 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 高清芬 | 張中柱 | 林慶芳
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I221897 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育 | 施學兢
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 207362 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 鄭凱宇 | 戴鴻名
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 207365 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 潘善鵬 | 姚斌誠 | 張威政 | 陳聖
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 190341 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 張貴凱 | 施能謙 | 陳燦林
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200275 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳譽元 | 楊景榮 | 黃瓊輝
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 196398 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 施能謙 | 張貴凱 | 陳燦林
核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL98116195.2 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 智慧型資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 鍾錦鈞 | 黃紹華 | 鍾崇斌
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 69681 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 聯合新式樣 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 智慧型資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 鄭博文 | 馮治華 | 廖文全 | 林正偉 | 王泰元 | 李炫弘 | 劉緯興
|