相變化記憶體元件及其製造方法
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專利名稱-中文相變化記憶體元件及其製造方法的核准國家是美國, 證書號碼是7,888,155, 專利期間起是100/02/15, 專利期間訖是118/07/31, 專利性質是發明, 執行單位是工研院電光所, 產出年度是100, 計畫名稱是固態儲存關鍵技術開發及系統驗證四年計畫, 專利發明人是FREDERICKT.CHEN.

序號8332
產出年度100
領域別電資通光
專利名稱-中文相變化記憶體元件及其製造方法
執行單位工研院電光所
產出單位工研院電光所
計畫名稱固態儲存關鍵技術開發及系統驗證四年計畫
專利發明人FREDERICKT.CHEN
核准國家美國
獲證日期100/03/10
證書號碼7,888,155
專利期間起100/02/15
專利期間訖118/07/31
專利性質發明
技術摘要-中文本發明提供一種相變化記憶體元件及其製造方法。該相變化記憶體元件包括:一第一電極形成於一基板;一第一介電層形成於該第一電極之上,其中該第一介電層具有一開口,且該開口露出該第一電極之一上表面;一柱狀結構直接形成該第一電極上,並位於該開口內;一內相變化材料層環繞該柱狀結構,並直接接觸該第一電極;一第二介電層環繞該內相變化材料層;一外相變化材料層環繞該第二介電層;一相變化材料橋接形成於該第二介電層及該第一電極之間,並連結該內相變化材料層及該外相變化材料層;以及,一第二電極直接形成於該柱狀結構之上,並直接接觸該內相
技術摘要-英文(空)
聯絡人員張順賢
電話03-5913917
傳真03-5917690
電子信箱hchang@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)

序號

8332

產出年度

100

領域別

電資通光

專利名稱-中文

相變化記憶體元件及其製造方法

執行單位

工研院電光所

產出單位

工研院電光所

計畫名稱

固態儲存關鍵技術開發及系統驗證四年計畫

專利發明人

FREDERICKT.CHEN

核准國家

美國

獲證日期

100/03/10

證書號碼

7,888,155

專利期間起

100/02/15

專利期間訖

118/07/31

專利性質

發明

技術摘要-中文

本發明提供一種相變化記憶體元件及其製造方法。該相變化記憶體元件包括:一第一電極形成於一基板;一第一介電層形成於該第一電極之上,其中該第一介電層具有一開口,且該開口露出該第一電極之一上表面;一柱狀結構直接形成該第一電極上,並位於該開口內;一內相變化材料層環繞該柱狀結構,並直接接觸該第一電極;一第二介電層環繞該內相變化材料層;一外相變化材料層環繞該第二介電層;一相變化材料橋接形成於該第二介電層及該第一電極之間,並連結該內相變化材料層及該外相變化材料層;以及,一第二電極直接形成於該柱狀結構之上,並直接接觸該內相

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

張順賢

電話

03-5913917

傳真

03-5917690

電子信箱

hchang@itri.org.tw

參考網址

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備註

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特殊情形

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10/11-18:36花蓮縣富里鄉發生規模5.8有感地震,最大震度花蓮縣富里5弱。

開放資料燈號: 黃色 | 地震報告編號: 112070 | 地震報告種類: 地震報告

@ 顯著有感地震報告

11/07-01:19臺灣東部海域發生規模5.5有感地震,最大震度花蓮縣磯崎、臺東縣成功4級。

開放資料燈號: 黃色 | 地震報告編號: 113489 | 地震報告種類: 地震報告

@ 顯著有感地震報告

01/26-00:10屏東縣三地門鄉發生規模5.3有感地震,最大震度屏東縣三地門、高雄市六龜、臺南市白河、嘉義縣番路4級。

開放資料燈號: 綠色 | 地震報告編號: 114039 | 地震報告種類: 地震報告

@ 顯著有感地震報告

03/13-13:09臺灣東部海域發生規模5.7有感地震,最大震度臺東縣成功、花蓮縣富里4級。

開放資料燈號: 黃色 | 地震報告編號: 114070 | 地震報告種類: 地震報告

@ 顯著有感地震報告

06/10-13:31屏東縣三地門鄉發生規模5.3有感地震,最大震度屏東縣三地門、高雄市六龜4級。

開放資料燈號: 綠色 | 地震報告編號: 112038 | 地震報告種類: 地震報告

@ 顯著有感地震報告

01/26-07:38臺南市楠西區發生規模5.7有感地震,最大震度臺南市楠西、嘉義縣大埔、高雄市甲仙、嘉義市、嘉義縣太保市、雲林縣草嶺、彰化縣二林、彰化縣彰化市4級。

開放資料燈號: 黃色 | 地震報告編號: 114040 | 地震報告種類: 地震報告

@ 顯著有感地震報告

補充公告本公司114年01月份自結盈餘

發言日期: 1140206 | 發言時間: 143317 | 公司名稱: 慧洋-KY | 公司代號: 2637 | 事實發生日: 1140206 | 符合條款: 第51款 | 說明: 1.事實發生日:114/02/06 2.公司名稱:慧洋海運股份有限公司 3.與公司關係(請輸入本公司或子公司):本公司 4.相互持股比例:不適用 5.發生緣由:補充公告本公司114年01月份自結盈餘 ...

@ 上市公司每日重大訊息

戲分茶

王文志/幼葉林藝術創作工作室 | 嘉義縣 | 場域: 其他 | 嘉義縣太保市故宮大道888號(博物館東翼戶外庭園區)

@ 文化部公共藝術

10/11-18:36花蓮縣富里鄉發生規模5.8有感地震,最大震度花蓮縣富里5弱。

開放資料燈號: 黃色 | 地震報告編號: 112070 | 地震報告種類: 地震報告

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06/10-13:31屏東縣三地門鄉發生規模5.3有感地震,最大震度屏東縣三地門、高雄市六龜4級。

開放資料燈號: 綠色 | 地震報告編號: 112038 | 地震報告種類: 地震報告

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01/26-07:38臺南市楠西區發生規模5.7有感地震,最大震度臺南市楠西、嘉義縣大埔、高雄市甲仙、嘉義市、嘉義縣太保市、雲林縣草嶺、彰化縣二林、彰化縣彰化市4級。

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補充公告本公司114年01月份自結盈餘

發言日期: 1140206 | 發言時間: 143317 | 公司名稱: 慧洋-KY | 公司代號: 2637 | 事實發生日: 1140206 | 符合條款: 第51款 | 說明: 1.事實發生日:114/02/06 2.公司名稱:慧洋海運股份有限公司 3.與公司關係(請輸入本公司或子公司):本公司 4.相互持股比例:不適用 5.發生緣由:補充公告本公司114年01月份自結盈餘 ...

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相變化記憶體元件及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I338392 | 專利期間起: 100/03/01 | 專利期間訖: 118/04/23 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 固態儲存關鍵技術開發及系統驗證四年計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN

@ 技術司專利資料集

相變化記憶體元件及其製造方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7888155 | 專利期間起: 100/02/15 | 專利期間訖: 118/07/31 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 固態儲存關鍵技術開發及系統驗證四年計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN

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相變化記憶體元件及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I338392 | 專利期間起: 100/03/01 | 專利期間訖: 118/04/23 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 固態儲存關鍵技術開發及系統驗證四年計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN

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相變化記憶體元件及其製造方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7888155 | 專利期間起: 100/02/15 | 專利期間訖: 118/07/31 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 固態儲存關鍵技術開發及系統驗證四年計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN

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記憶體單元之讀取方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,184,491 | 專利期間起: 101/05/22 | 專利期間訖: 119/08/26 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN

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電阻切換式記憶體

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,198,620 | 專利期間起: 101/06/21 | 專利期間訖: 119/09/26 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN | 蔡銘進 | 陳維恕 | 李亨元

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記憶體單元之讀取方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8184491 | 專利期間起: 101/05/22 | 專利期間訖: 119/08/26 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN

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電阻切換式記憶體

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8198620 | 專利期間起: 101/06/21 | 專利期間訖: 119/09/26 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN | 蔡銘進 | 陳維恕 | 李亨元

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記憶體單元之讀取方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,184,491 | 專利期間起: 101/05/22 | 專利期間訖: 119/08/26 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN

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電阻切換式記憶體

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,198,620 | 專利期間起: 101/06/21 | 專利期間訖: 119/09/26 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN | 蔡銘進 | 陳維恕 | 李亨元

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記憶體單元之讀取方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8184491 | 專利期間起: 101/05/22 | 專利期間訖: 119/08/26 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN

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電阻切換式記憶體

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8198620 | 專利期間起: 101/06/21 | 專利期間訖: 119/09/26 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: FREDERICKT.CHEN | 蔡銘進 | 陳維恕 | 李亨元

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MRAM 元件製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: 本技術包括磁性非揮發記憶體相關技術之研發,可使用於系統記憶體,具高密度(可達6-8F2)、高速度 (both read and write1015) 、省電(operation current | 潛力預估: MRAM可應於可攜式消費性電子或資訊產品,是繼Flash、DRAM、SRAM之後,最令人注目的新記憶體,成長空間極大。

@ 技術司可移轉技術資料集

用於40G光通訊用IC及光偵測器的Carbon-doped SiGe/Si HBT製程技

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: 電流增益(Current Gain, hFE):>100 · 閂住基極電阻(Pinched Base Resistance, RBS,P):< 8 Kohm/sq · 截止頻率(Cut-Off Fre... | 潛力預估: 以低成本及Si製程相容性的優勢,將有利於切入高速傳輸的光通訊元件及高功率RF IC的市場。

@ 技術司可移轉技術資料集

相變化薄膜製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 薄膜阻值變化率>102 2.相變化時間 | 潛力預估: 相變化記憶體可應於可攜式消費性電子或資訊產品,可切入既有的 DRAM、SRAM與Flash市場。

@ 技術司可移轉技術資料集

高介電值閘極介電物技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 高介電常數:k>20,等效厚度小於1.4奈米,漏電流小於氧化矽3個數量級 | 潛力預估: 本技術是與應變電子具潛力的CMOS前瞻技術

@ 技術司可移轉技術資料集

相變化記憶體元件與製程技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 提升相變化薄膜與電極之間的附著力達到 40Mpa、設計縮減記憶胞之電極接觸面積小於 8750nm2。 | 潛力預估: OUM是未來可取代Flash之新興記憶體,最令人注目的新記憶體,成長空間極大

@ 技術司可移轉技術資料集

應變矽CMOS元件與製程技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 矽鍺虛擬基材製程技術開發 - 膜厚 < 1.0um, 線穿缺陷密度 < 104~5/cm2 載子移動率增效 – 電子 > 60%, 電洞> 60% | 潛力預估: 本技術是High-k具潛力的CMOS前瞻技術

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MRAM 元件製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: 本技術包括磁性非揮發記憶體相關技術之研發,可使用於系統記憶體,具高密度(可達6-8F2)、高速度 (both read and write1015) 、省電(operation current | 潛力預估: MRAM可應於可攜式消費性電子或資訊產品,是繼Flash、DRAM、SRAM之後,最令人注目的新記憶體,成長空間極大。

@ 技術司可移轉技術資料集

用於40G光通訊用IC及光偵測器的Carbon-doped SiGe/Si HBT製程技

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: 電流增益(Current Gain, hFE):>100 · 閂住基極電阻(Pinched Base Resistance, RBS,P):< 8 Kohm/sq · 截止頻率(Cut-Off Fre... | 潛力預估: 以低成本及Si製程相容性的優勢,將有利於切入高速傳輸的光通訊元件及高功率RF IC的市場。

@ 技術司可移轉技術資料集

相變化薄膜製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 薄膜阻值變化率>102 2.相變化時間 | 潛力預估: 相變化記憶體可應於可攜式消費性電子或資訊產品,可切入既有的 DRAM、SRAM與Flash市場。

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高介電值閘極介電物技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 高介電常數:k>20,等效厚度小於1.4奈米,漏電流小於氧化矽3個數量級 | 潛力預估: 本技術是與應變電子具潛力的CMOS前瞻技術

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相變化記憶體元件與製程技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 提升相變化薄膜與電極之間的附著力達到 40Mpa、設計縮減記憶胞之電極接觸面積小於 8750nm2。 | 潛力預估: OUM是未來可取代Flash之新興記憶體,最令人注目的新記憶體,成長空間極大

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應變矽CMOS元件與製程技術

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 矽鍺虛擬基材製程技術開發 - 膜厚 < 1.0um, 線穿缺陷密度 < 104~5/cm2 載子移動率增效 – 電子 > 60%, 電洞> 60% | 潛力預估: 本技術是High-k具潛力的CMOS前瞻技術

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測量馬達感應電動勢以鑑別轉子充磁好壞的方法

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核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184615 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 詹勝雄 | 沈偉 | 莊福明

液晶投影機之冷卻裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193369 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 李文宗 | 張淵仁

無鬼影之背投影顯示螢幕

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193378 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 林晃巖 | 黎邦 | 田萬頂

視差屏障式裸眼立體顯示裝置

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,727,866 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 王迺岳 | 李獻仁 | 蔡朝旭

碟片夾持機構

核准國家: 日本 | 證書號碼: 3602746 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 吳敏德 | 邱琬雯 | 潘旭斌 | 徐弘光 | 陳俊民 | 楊志軒 | 劉雅君

磁鐵吸附式自動升降盤片壓覆具

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL99122876.6 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 梁瑞麟 | 張裕修

光學讀寫頭致動器的磁浮裝置

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL99127404.0 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 魏立鼎 | 張吉龍

測量馬達感應電動勢以鑑別轉子充磁好壞的方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,686,761 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 潘彥光 | 黃介一 | 郭利德 | 王世杰

光碟承載裝置

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,728,189 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 黃偉煜

光碟機承載裝置

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,728,190 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 黃振源 | 張啟伸

動靜混壓式流體軸承及其製造方法

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL01131491.5 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 黃晉興 | 徐弘光

製作多層膜記錄層光碟片之裝置與方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 191977 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 張朝信 | 郭利德 | 馬榮昌 | 陳志強 | 張裕修

磁浮軸承

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,703,736 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 王建昌 | 王世杰 | 徐弘光 | 張裕修

組合式流體動壓軸承及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I223691 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 施文章 | 黃晉興 | 張裕修 | 徐弘光

組合式流體動壓軸承及其製造方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,769,808 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 | 專利發明人: 施文章 | 黃晉興 | 張裕修 | 徐弘光

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