污染物來源預測方法及系統
- 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文污染物來源預測方法及系統的核准國家是中國大陸, 執行單位是工研院綠能所, 產出年度是102, 專利性質是發明, 計畫名稱是健康生活產業環安技術開發計畫, 專利發明人是宋隆佑 ,楊人芝 ,張寶額 ,謝瑞豪 ,蘇仁偉 ,林敦慧 ,劉興瑲 ,陳奕侖, 證書號碼是ZL200910215821.6.

序號11029
產出年度102
領域別材料化工
專利名稱-中文污染物來源預測方法及系統
執行單位工研院綠能所
產出單位工研院綠能所
計畫名稱健康生活產業環安技術開發計畫
專利發明人宋隆佑 ,楊人芝 ,張寶額 ,謝瑞豪 ,蘇仁偉 ,林敦慧 ,劉興瑲 ,陳奕侖
核准國家中國大陸
獲證日期102/01/16
證書號碼ZL200910215821.6
專利期間起101/10/17
專利期間訖118/12/30
專利性質發明
技術摘要-中文污染物來源預測方法及系統
技術摘要-英文(空)
聯絡人員宋隆佑
電話03-5732669
傳真03-5820061
電子信箱leosung@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
同步更新日期2019-07-24

序號

11029

產出年度

102

領域別

材料化工

專利名稱-中文

污染物來源預測方法及系統

執行單位

工研院綠能所

產出單位

工研院綠能所

計畫名稱

健康生活產業環安技術開發計畫

專利發明人

宋隆佑 ,楊人芝 ,張寶額 ,謝瑞豪 ,蘇仁偉 ,林敦慧 ,劉興瑲 ,陳奕侖

核准國家

中國大陸

獲證日期

102/01/16

證書號碼

ZL200910215821.6

專利期間起

101/10/17

專利期間訖

118/12/30

專利性質

發明

技術摘要-中文

污染物來源預測方法及系統

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

宋隆佑

電話

03-5732669

傳真

03-5820061

電子信箱

leosung@itri.org.tw

參考網址

(空)

備註

(空)

特殊情形

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同步更新日期

2019-07-24

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污染物來源預測方法及系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 102 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 健康生活產業環安技術開發計畫 | 專利發明人: 宋隆佑 ,楊人芝 ,張寶額 ,謝瑞豪 ,蘇仁偉 ,林敦慧 ,劉興瑲 ,陳奕侖 | 證書號碼: I395932

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

污染物來源預測方法及系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 102 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 健康生活產業環安技術開發計畫 | 專利發明人: 宋隆佑 ,楊人芝 ,張寶額 ,謝瑞豪 ,蘇仁偉 ,林敦慧 ,劉興瑲 ,陳奕侖 | 證書號碼: I395932

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辨識光譜的方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 103 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 健康生活產業環安技術開發計畫 | 專利發明人: 宋隆佑 ,杜敬民 ,謝瑞豪 ,陳奕侖 ,盧鴻興 ,蔡孟原 | 證書號碼: I428581

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

紅外光量測數據處理巨集模組(IrLite)

執行單位: 工研院能環所 | 產出年度: 97 | 產出單位: | 計畫名稱: 能源與環境領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 具有處理氣象數據的Excel | 潛力預估: 且產品具方便及可靠等特性,可輔助FTIR使用者獲得更多有價值的資訊。

@ 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集

遙測光譜數據分析系統

執行單位: 工研院能環所 | 產出年度: 97 | 產出單位: | 計畫名稱: 能源與環境領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 方便實用中文化介面的光譜數據分析軟體。 | 潛力預估: 國內FTIR使用者日增,對於有效方便的光譜分析工具很大的市場需求性。

@ 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集

石化工業區空氣污染監測網

執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 99 | 產出單位: | 計畫名稱: 能源與環境領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 使用 GIS 資訊管理地理資訊,使用 GPS 標定量測位置,無線通訊傳遞資訊,現場量測機動性高,利用實際污染物量測結果計算污染來源,自行開發自主性高,具高度擴充性。 | 潛力預估: 石化工業區污染物整體資訊系統監督

@ 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集

污染源預測計算方法

執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 99 | 產出單位: | 計畫名稱: 能源與環境領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 使用二組或二組以上監測污染物所得之「濃度機率-風向分佈圖」,計算產生污染物逸散源位置機率分佈圖。分佈圖上濃度機率高點(Hot spot)可以指出最有可能發生污染逸散的位置,如果污染源超過一個時,可以找... | 潛力預估: 可於工業區或大型廠房區域推估污染逸散來源位置。

@ 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集

無塵室空氣採樣裝置

執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 99 | 產出單位: | 計畫名稱: 能源與環境領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 包含電池、抽氣泵、採樣管、連接管、至少1個採樣衝擊瓶(內含液體採樣介質)以及密閉封裝的裝置外殼。 | 潛力預估: 可應用在高科技廠房 AMC 中 MA 及MB採樣

@ 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集

在工業區搜尋污染源的方法

執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 105 | 產出單位: | 計畫名稱: 健康產業環境技術開發計畫 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 現場操作條件要求:連續污染物監測週期:< 15 sec; 衛星定位誤差 < 5 公尺; 載具移動速度 < 30 公里/小時 | 潛力預估: 污染調查及環保監測市場為國際間後續之重點國家政策,本技術可進行污染源調查及搜尋,為環保治理之啟始源頭。

@ 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集

無塵室空氣採樣裝置

執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 105 | 產出單位: | 計畫名稱: 健康產業環境技術開發計畫 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 包含電池、抽氣泵、採樣管、連接管、至少1個採樣衝擊瓶(內含液體採樣介質)以及密閉封裝的裝置外殼。 | 潛力預估: 可應用在高科技廠房 AMC 中 MA 及MB採樣

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辨識光譜的方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 103 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 健康生活產業環安技術開發計畫 | 專利發明人: 宋隆佑 ,杜敬民 ,謝瑞豪 ,陳奕侖 ,盧鴻興 ,蔡孟原 | 證書號碼: I428581

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紅外光量測數據處理巨集模組(IrLite)

執行單位: 工研院能環所 | 產出年度: 97 | 產出單位: | 計畫名稱: 能源與環境領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 具有處理氣象數據的Excel | 潛力預估: 且產品具方便及可靠等特性,可輔助FTIR使用者獲得更多有價值的資訊。

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遙測光譜數據分析系統

執行單位: 工研院能環所 | 產出年度: 97 | 產出單位: | 計畫名稱: 能源與環境領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 方便實用中文化介面的光譜數據分析軟體。 | 潛力預估: 國內FTIR使用者日增,對於有效方便的光譜分析工具很大的市場需求性。

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石化工業區空氣污染監測網

執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 99 | 產出單位: | 計畫名稱: 能源與環境領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 使用 GIS 資訊管理地理資訊,使用 GPS 標定量測位置,無線通訊傳遞資訊,現場量測機動性高,利用實際污染物量測結果計算污染來源,自行開發自主性高,具高度擴充性。 | 潛力預估: 石化工業區污染物整體資訊系統監督

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污染源預測計算方法

執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 99 | 產出單位: | 計畫名稱: 能源與環境領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 使用二組或二組以上監測污染物所得之「濃度機率-風向分佈圖」,計算產生污染物逸散源位置機率分佈圖。分佈圖上濃度機率高點(Hot spot)可以指出最有可能發生污染逸散的位置,如果污染源超過一個時,可以找... | 潛力預估: 可於工業區或大型廠房區域推估污染逸散來源位置。

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無塵室空氣採樣裝置

執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 99 | 產出單位: | 計畫名稱: 能源與環境領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 包含電池、抽氣泵、採樣管、連接管、至少1個採樣衝擊瓶(內含液體採樣介質)以及密閉封裝的裝置外殼。 | 潛力預估: 可應用在高科技廠房 AMC 中 MA 及MB採樣

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在工業區搜尋污染源的方法

執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 105 | 產出單位: | 計畫名稱: 健康產業環境技術開發計畫 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 現場操作條件要求:連續污染物監測週期:< 15 sec; 衛星定位誤差 < 5 公尺; 載具移動速度 < 30 公里/小時 | 潛力預估: 污染調查及環保監測市場為國際間後續之重點國家政策,本技術可進行污染源調查及搜尋,為環保治理之啟始源頭。

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無塵室空氣採樣裝置

執行單位: 工研院綠能所 | 產出年度: 105 | 產出單位: | 計畫名稱: 健康產業環境技術開發計畫 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 包含電池、抽氣泵、採樣管、連接管、至少1個採樣衝擊瓶(內含液體採樣介質)以及密閉封裝的裝置外殼。 | 潛力預估: 可應用在高科技廠房 AMC 中 MA 及MB採樣

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與污染物來源預測方法及系統同分類的經濟部產業技術司–專利資料集

微型生物培養裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 微小化生醫診療工程技術四年計畫 | 專利發明人: 姚南光, 翁國曜 | 證書號碼: 188117

微流體導引裝置

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 鍾震桂, 張為傑, 蕭价伶, 翁國曜 | 證書號碼: 6743636

矩陣式生物晶片檢測系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 微小化生醫診療工程技術四年計畫 | 專利發明人: 洪隆裕 | 證書號碼: 201949

微流體致動器

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 微小化生醫診療工程技術四年計畫 | 專利發明人: 韋雅各 | 證書號碼: 201207

具錯誤偵測暨更正功能之液晶顯示器掃描線驅動電路

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 王博文, 陳尚立 | 證書號碼: 193977

一種磊晶基極的雙極性電晶體製程

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英 | 證書號碼: 6589849

一種清洗晶背的方法

核准國家: 奧地利 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 周維揚, 馬慶輝 | 證書號碼: 412043

步階式充放電之低功率液晶顯示器的驅動電路及其驅動方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳尚立, 易建宇 | 證書號碼: 195737

具內凹型表面結構的多域分割液晶顯示器的結構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達, 陳慶逸, 陳績檍 | 證書號碼: 193993

液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構

核准國家: 日本 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 巫吉原 | 證書號碼: 3553864

液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 巫吉原 | 證書號碼: 190439

單增益緩衝器

核准國家: 日本 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 王博文, 施俊任, 陳尚立 | 證書號碼: 3500353

廣視角橫向電極多域排列液晶顯示面板及製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達 | 證書號碼: 206398

連續域反扭轉型液晶顯示裝置及其製作方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 莊立聖, 陳慶逸 | 證書號碼: 185475

顯示器自動伽馬(GAMMA)校正系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖明俊, 楊和興, 沈毓仁 | 證書號碼: 200771

微型生物培養裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 微小化生醫診療工程技術四年計畫 | 專利發明人: 姚南光, 翁國曜 | 證書號碼: 188117

微流體導引裝置

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 鍾震桂, 張為傑, 蕭价伶, 翁國曜 | 證書號碼: 6743636

矩陣式生物晶片檢測系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 微小化生醫診療工程技術四年計畫 | 專利發明人: 洪隆裕 | 證書號碼: 201949

微流體致動器

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 微小化生醫診療工程技術四年計畫 | 專利發明人: 韋雅各 | 證書號碼: 201207

具錯誤偵測暨更正功能之液晶顯示器掃描線驅動電路

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 王博文, 陳尚立 | 證書號碼: 193977

一種磊晶基極的雙極性電晶體製程

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英 | 證書號碼: 6589849

一種清洗晶背的方法

核准國家: 奧地利 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 周維揚, 馬慶輝 | 證書號碼: 412043

步階式充放電之低功率液晶顯示器的驅動電路及其驅動方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳尚立, 易建宇 | 證書號碼: 195737

具內凹型表面結構的多域分割液晶顯示器的結構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達, 陳慶逸, 陳績檍 | 證書號碼: 193993

液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構

核准國家: 日本 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 巫吉原 | 證書號碼: 3553864

液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 巫吉原 | 證書號碼: 190439

單增益緩衝器

核准國家: 日本 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 王博文, 施俊任, 陳尚立 | 證書號碼: 3500353

廣視角橫向電極多域排列液晶顯示面板及製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達 | 證書號碼: 206398

連續域反扭轉型液晶顯示裝置及其製作方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 莊立聖, 陳慶逸 | 證書號碼: 185475

顯示器自動伽馬(GAMMA)校正系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖明俊, 楊和興, 沈毓仁 | 證書號碼: 200771

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